[发明专利]显示装置及其检测电路和检测方法

说明书

本发明公开了一种显示装置及其检测电路和检测方法，所述显示装置包括具有阵列排布的多个像素单元以及驱动模块，所述驱动模块用于按行或列通过信号线循序输出控制信号至所述像素单元，所述检测电路包括逻辑输出模块，与所述显示面板上的多条所述信号线相连，用于读取每根所述信号线的控制信号，并输出检测信号；判断模块，用于接收所述检测信号，并将所述检测信号的逻辑电平与预设的逻辑电平进行比较，并根据比较结果判断所述驱动模块的工作状态，从而可以在显示面板画面异常时快速准确的判别异常模块。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种显示装置及其检测电路和检测方法。

背景技术

在显示领域，显示装置显示画面一般需要多个模块协作完成，现有的显示装置根据发光体的不同，一般分为LCD显示装置和OLED显示装置。

LCD显示装置显示画面至少需要源极驱动(Source drive)模块、栅极驱动(gateon array)模块输入相应的控制信号至像素电路；OLED显示装置显示画面至少需要源极驱动模块、栅极驱动模块以及发光模块输入相应的控制信号至像素电路。如图1所示，栅极驱动模块20通过栅极线连接至像素单元30的薄膜晶体管T的控制端，源极驱动模块10通过源极线连接至薄膜晶体管T的第一导通端，在显示装置显示画面时栅极驱动模块20会通过栅极线(gate line)循序输出栅极控制信号至像素单元30，以按行选通像素单元30，在薄膜晶体管T为NMOS管时，栅极驱动模块20输出的栅极控制信号为高电平，在薄膜晶体管T为PMOS管时，栅极驱动模块20输出的栅极控制信号为低电平。

现有技术会将栅极驱动模块、源极驱动模块以及发光模块等模块集成于同一块驱动芯片IC上，在显示装置画面异常时，需要厘清是哪个模块出现问题，现有的微(micro)显示装置并没有办法检测所有的栅极线和发光线(EM line)传输的控制信号，只能通过抽查的方式来验证，以分辨率4K为例，有4000条栅极线和4000条发光线，目前只能抽查前中后数根栅极线和发光线传输的控制信号，当画面出现异常时，无法有效厘清是哪个模块出现了问题，因此有待提出一种新的技术方案以解决上述问题。

发明内容

鉴于上述问题，本发明的目的在于提供一种显示装置及其检测电路和检测方法，从而可以在显示面板画面异常时快速准确的判别异常模块。

根据本发明的一方面，提供一种显示装置的检测电路，所述显示装置包括具有阵列排布的多个像素单元以及驱动模块，所述驱动模块用于按行或列通过信号线循序输出控制信号至所述像素单元，所述检测电路包括：逻辑输出模块，与所述显示面板上的多根所述信号线相连，用于读取每根所述信号线的控制信号，并输出检测信号；判断模块，用于接收所述检测信号，并将所述检测信号的逻辑电平与预设的逻辑电平进行比较，并根据比较结果判断所述驱动模块的工作状态。

可选地，所述判断模块设置为当所述检测信号的逻辑电平与所述预设的逻辑电平完全相同时，判定所述驱动模块工作正常。

可选地，所述判断模块设置为当所述检测信号的逻辑电平与所述预设的逻辑电平不相同时，根据所述检测信号的逻辑电平与所述预设的逻辑电平不同的时间与预设时间的倍数关系确定出现异常的信号线。

可选地，所述预设时间为所述驱动模块输出所述控制信号至每根所述信号线的时间。

可选地，所述逻辑输出模块包括：级联的多个或门电路，每个或门电路包括多个输入端，所述多个或门电路中的第一个的多个输入端分别与对应的信号线相连，所述多个或门电路中除第一个的其他或门电路的多个输入端中的一个与前一个或门电路的输出端连接，其余的输入端与对应的信号线相连，所述多个或门电路中的最后一个的输出端用于输出所述检测信号。

可选地，所述驱动模块为栅极驱动模块，所述栅极驱动模块用于按行通过栅极线循序输出栅极控制信号至所述像素单元的开关晶体管的控制端。