[发明专利]一种光学参数测量方法及装置在审
申请号: | 202211048208.1 | 申请日: | 2022-08-30 |
公开(公告)号: | CN115389172A | 公开(公告)日: | 2022-11-25 |
发明(设计)人: | 唐宝杰;许孜奕;陈朝阳 | 申请(专利权)人: | 乐相科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 刘亚威 |
地址: | 322103 浙江省金华市东阳市江北街道猴*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光学 参数 测量方法 装置 | ||
1.一种光学参数测量方法,其特征在于,应用于测量系统,所述测量系统包括望远镜,所述方法包括:
确定所述望远镜的第一参数与第一虚像距的对应关系,所述第一虚像距为预设图像到所述望远镜的靠近所述预设图像的面之间的距离;
通过所述望远镜测量所述头显成像系统显示的图像,当所述图像在所述望远镜中呈清晰的虚像时,确定所述望远镜的第一参数的值;
根据所述第一参数的值和所述对应关系,确定所述头显成像系统的目标虚像距。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测量系统还包括角度测量装置,所述望远镜设置于所述角度测量装置的边缘,所述图像包括图像临界边缘,所述方法还包括:
沿所述角度测量装置的边缘移动所述望远镜,当所述图像的图像临界边缘在所述望远镜中呈虚像时,确定所述望远镜沿所述角度测量装置转动的角度;
根据所述转动的角度确定所述头显成像系统的视场角。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述角度测量装置的形状为圆形,所述角度测量装置的中心点与所述头显成像系统出瞳位置重合。
4.如权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述视场角包括水平视场角和垂直视场角。
5.如权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取所述头显成像系统显示的图像的图像分辨率;
根据所述图像分辨率和所述视场角确定所述头显成像系统的角分辨率。
6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述角分辨率包括水平角分辨率和垂直角分辨率,所述图像分辨率包括水平图像分辨率和垂直图像分辨率;
所述根据所述图像分辨率和所述视场角确定所述头显成像系统的角分辨率,包括:
根据所述水平图像分辨率和所述水平视场角,确定所述水平角分辨率;
根据所述垂直图像分辨率和所述垂直视场角,确定所述垂直角分辨率。
7.如权利要求1~3任一项所述的方法,其特征在于,所述望远镜包括物镜和目镜,所述第一参数包括所述目镜移动的距离或所述物镜移动的距离。
8.如权利要求1~3任一项所述的方法,其特征在于,所述望远镜包括物镜、目镜和调焦镜,所述第一参数包括所述调焦镜移动的距离。
9.如权利要求1~3任一项所述的方法,其特征在于,所述对应关系包括所述望远镜的第一参数与第一虚像距的函数关系。
10.一种光学参数测量装置,其特征在于,应用于测量系统,所述测量系统包括望远镜,所述装置包括:
获取单元,用于确定所述望远镜的第一参数与第一虚像距的对应关系;
处理单元,用于通过所述望远镜测量所述头显成像系统显示的图像,当所述图像在所述望远镜中呈清晰的虚像时,确定所述望远镜的第一参数的值;以及根据所述第一参数的值和所述对应关系,确定所述头显成像系统的目标虚像距。
11.一种计算设备,其特征在于,包括至少一个处理器以及至少一个存储器,其中,所述存储器存储有计算机程序,当所述程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行权利要求1至9任一权利要求所述的方法。
12.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述存储介质存储有程序,当所述程序在计算机上运行时,使得计算机实现执行权利要求1至9任一项所述的方法。
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