[发明专利]电路装置和检错方法

说明书

电路装置和检错方法。电路装置包含存储电路、图像转换电路和检错电路。存储电路存储所输入的第1图像数据。图像转换电路输出表示第1图像数据上的像素位置的参照坐标，根据基于所输出的参照坐标而从存储电路读出的像素数据，输出第2图像数据，由此，对第1图像数据进行基于坐标转换的图像转换。检错电路对图像转换电路输出的参照坐标进行检错。

技术领域

本发明涉及电路装置和检错方法等。

背景技术

专利文献1公开了包含图像处理电路和比较电路的电路装置。图像处理电路将所输入的第1图像映射处理为第2图像，通过逆映射处理将第2图像转换为第3图像。比较电路通过进行第1图像与第3图像之间的比较，进行第2图像的检错。具体而言，比较电路通过对边缘图像的图像值或可视性指标进行比较，进行第1图像与第3图像之间的比较。

专利文献1：日本特开2019-149760号公报

在上述的专利文献1中，能够进行第2图像的检错，但在检测图像处理电路的异常的方面，存在难以实现高精度的异常检测的课题。具体而言，逆映射后的第3图像不一定完全返回到作为原图像的第1图像，因此，该比较包含不确定性。虽然在确认第2图像的内容是否适当的方面没有问题，但是，在检测图像处理电路的异常的方面存在不确定性。

发明内容

本申请的一个方式涉及电路装置，该电路装置包含：存储电路，其存储输入的第1图像数据；图像转换电路，其输出表示所述第1图像数据上的像素位置的参照坐标，根据基于所输出的所述参照坐标而从所述存储电路读出的像素数据，输出第2图像数据，由此，对所述第1图像数据进行基于坐标转换的图像转换；以及检错电路，其对所述图像转换电路输出的所述参照坐标进行检错。

此外，本申请的另一方式涉及检错方法，该检错方法包括：使存储电路存储第1图像数据；对所述第1图像数据进行基于坐标转换的图像转换，输出所述图像转换后的第2图像数据；在所述图像转换中，输出表示所述第1图像数据上的像素位置的参照坐标，根据基于所输出的所述参照坐标而从所述存储电路读出的像素数据，输出所述第2图像数据；以及对所输出的所述参照坐标进行检错。

附图说明

图1是电路装置的第1结构例。

图2是说明第1结构例中的检错的图。

图3是第1结构例中的检错的时序图。

图4是示出校正参数与错误码值的期望值的对应的图。

图5是第2结构例中的检错的时序图。

图6是电路装置的第3结构例。

图7是说明第3结构例中的检错的图。

图8是说明第4结构例中的检错的图。

图9是电路装置的第5结构例。

图10是说明第5结构例中的检错的图。

标号说明

100：电路装置；110：输入电路；120：存储电路；130：图像转换电路；140：输出电路；150：检错电路；151：运算电路；152：比较电路；160：坐标地址转换电路；190：接口电路；200：处理装置；CDEX：期望值；CDQ：错误码值；IMA：第1图像数据；IMB：第2图像数据；RADD：读取地址；RCRD：参照坐标；WADD：写入地址；WCRD：移动目的地坐标；WP：校正参数。

具体实施方式

以下，详细地说明本申请的优选实施方式。另外，以下说明的本实施方式并非不当地限定权利要求所记载的内容，本实施方式中说明的结构不一定全部都是必须结构要素。

1.第1结构例