[发明专利]陶瓷基板及其制备方法、微波器件及其封装外壳结构有效
申请号: | 202211082049.7 | 申请日: | 2022-09-06 |
公开(公告)号: | CN115172176B | 公开(公告)日: | 2023-09-22 |
发明(设计)人: | 钟永辉;苗冠男;徐佩峰;魏四飞;方军;曾辉;史常东 | 申请(专利权)人: | 合肥圣达电子科技实业有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H01L23/15;H01L23/26;H01L23/498;H01L23/552 |
代理公司: | 合肥和瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 34118 | 代理人: | 金宇平 |
地址: | 230088 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 陶瓷 及其 制备 方法 微波 器件 封装 外壳 结构 | ||
1.一种陶瓷基板制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、采用HTCC工艺制备信号屏蔽通孔(5)被导体材料(4)填充的陶瓷板材,将陶瓷板材研磨至设定厚度作为陶瓷基板(1),在陶瓷基板(1)上打孔作为信号传输通孔(3);
S2、在陶瓷基板(1)上依次溅射钛层(11)和钯层(12),钛层(11)厚度为0.5-5微米,钯层(12)厚度为0.2-0.5微米;然后遮挡预设的吸氢区,未遮挡区域为蚀刻区;
S3、在蚀刻区镀铜直至铜导体(30)填充信号传输通孔,然后在镀设的铜层上采用电镀或者溅射的方式依次形成镍层和金层;
S4、对蚀刻区进行蚀刻以形成线路,蚀刻完成后去除遮挡,获得加工完成的陶瓷基板(1)。
2.如权利要求1所述的陶瓷基板制备方法,其特征在于,S1中,每一个信号传输通孔(3)外周均绕有一圈信号屏蔽通孔(5)形成信号屏蔽环带。
3.如权利要求2所述的陶瓷基板制备方法,其特征在于,信号屏蔽环带为与对应的信号传输通孔(3)同轴的圆环结构,信号屏蔽环带上的信号屏蔽通孔(5)均匀分布,相邻两个信号屏蔽通孔之间的圆心角为22.5°到30°。
4.一种陶瓷基板,其特征在于,采用权利要求1或2或3所述的陶瓷基板制备方法获得。
5.如权利要求4所述的陶瓷基板,其特征在于,镍层(14)厚度为1.3-8.9微米,金层(15)厚度为0.5-2微米。
6.如权利要求4所述的陶瓷基板,其特征在于,信号传输通孔(3)的直径在75微米到150微米之间,铜层(13)的厚度大于或等于信号传输通孔(3)内铜导体(30)的半径。
7.如权利要求6所述的陶瓷基板,其特征在于,信号屏蔽通孔(5)内填充的导体材料(4)为钨导体;陶瓷基板(1)采用氮化铝材质。
8.一种微波器件封装外壳结构,其特征在于,包括金属围框(6)和采用权利要求1或2或3所述的陶瓷基板制备方法获得的陶瓷基板(1);金属围框(6)与陶瓷基板(1)连接,以罩设设置在陶瓷基板(1)上的元件。
9.如权利要求8所述的微波器件封装外壳结构,其特征在于,金属围框(6)表层设有镍层和金层,金属围框(6)通过锡基钎料与加工完成的陶瓷基板(1)焊接。
10.一种微波器件,其特征在于,采用如权利要求8所述的微波器件封装外壳结构。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造