[发明专利]一种接触网几何参数测量仪示值误差的检校方法在审
申请号: | 202211082988.1 | 申请日: | 2022-09-06 |
公开(公告)号: | CN115371559A | 公开(公告)日: | 2022-11-22 |
发明(设计)人: | 贾敏强;张健;唐莹;曹丛;张瑞锋;胡安继 | 申请(专利权)人: | 山东省计量科学研究院 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人: | 苗峻 |
地址: | 250014 *** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 接触 几何 参数 测量仪 误差 校方 | ||
1.一种接触网几何参数测量仪示值误差的检校方法,对接触网几何参数测量仪测量高度值误差进行检校,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1、在接触网几何参数测量仪的正上方设置平面反射镜,平面反射镜的中心位于接触网几何参数测量仪的光轴上、将接触网几何参数测量仪的测量光线偏折90°、测量光线由竖直方向指向水平方向;
步骤2、在接触网几何参数测量仪的一侧设置模拟接触线,模拟接触线位于水平方向的光轴上,模拟接触线可以沿水平方向自由移动;
步骤3、将模拟接触线定位在第一点位置,此时人工测量模拟接触线经平面反射镜到接触网几何参数测量仪的实际距离记为h1,同时用接触网几何参数测量仪测量当前模拟接触线的位置,记录示值为H1;
步骤4、将模拟接触线沿水平轴左右移动,使模拟接触线始终位于水平方向的光轴上,依次人工测量模拟接触线在第二点、第三点、第四点、第五点位置时,模拟接触线经平面反射镜到接触网几何参数测量仪的实际距离分别记为h2、h3、h4、h5;在移动的同时用接触网几何参数测量仪测量当时模拟接触线的位置,分别记录示值为H2、H3、H4、H5;
步骤5、通过下式计算各点位置的示值误差:
δi=Hi-hi,
其中,i=1、2、3、4、5。
2.根据权利要求1所述的一种接触网几何参数测量仪示值误差的检校方法,其特征在于,模拟接触线基座(1)和测量仪基座(6)相互平行设置,接触网几何参数测量仪(7)固定安装在测量仪基座(6)的上侧面,在接触网几何参数测量仪(7)的正上方固定安装平面反射镜(4),平面反射镜(4)与接触网几何参数测量仪(7)的投射光呈45度夹角,并且平面反射镜(4)靠近模拟接触线基座(1)的一侧高于远离模拟接触线基座(1)的一侧,定位平移台(2)活动安装在模拟接触线基座(1)的上表面,定位平移台(2)上固定安装垂直支撑杆(3),垂直支撑杆(3)上活动设置一条模拟接触线(9),模拟接触线(9)沿垂直支撑杆(3)在竖直方向上下移动。
3.根据权利要求2所述的一种接触网几何参数测量仪示值误差的检校方法,其特征在于,所述的模拟接触线基座(1)和测量仪基座(6)固定设置在相互平行的钢轨(5)上。
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