[发明专利]一种LED驱动芯片测试系统

说明书

本发明公开了一种LED驱动芯片测试系统，包括中央处理器、图像采集系统、图像处理系统与图像输出系统，其特征在于：所述图像采集系统与图像处理系统的输入端连接，所述图像处理系统的输出端与中央处理器的输入端连接，所述中央处理器的输出端与图像输出系统的输入端连接，该LED驱动芯片测试系统，能够基于物联网的图像分析系统利用物联网通信单元结合于图像的数据传输和分析，配合图像分析及处理单元，数据处理连续性强，有效提升图像的处理效率及处理完成度。

技术领域

本发明涉及LED驱动芯片测试相关制品领域，具体为一种LED驱动芯片测试系统。

背景技术

目前，半导体照明用LED芯片封装生产工序主要有固晶、焊线、点胶、烘烤、外观检测、编带和包装。在各生产工序的生产过程中，由于异物污染或生产故障，容易导致LED芯片引入不同种类的缺陷，造成LED芯片的功能故障以及产品质量的下降。因此为保证产品质量，就需要通过外观检测将有缺陷的LED芯片及时发现并从生产线上挑选出来，以提高产品质量。传统的LED外观检测工艺以人工检测方法为主，自动化程度较差，检测效率低，并且容易造成误检和漏检，也无法及时将检测数据送入生产数据库进行质量管理。

发明内容

本发明的目的在于提供一种LED驱动芯片测试系统，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种LED驱动芯片测试系统，包括中央处理器、图像采集系统、图像处理系统与图像输出系统，其特征在于：所述图像采集系统与图像处理系统的输入端连接，所述图像处理系统的输出端与中央处理器的输入端连接，所述中央处理器的输出端与图像输出系统的输入端连接。

优选的，所述图像采集系统包括CMOS相机与图像采集模块，所述CMOS相机对待测试芯片进行摄录，所述图像采集模块对摄录图像进行采集。

优选的，所述图像处理系统包括图像分析模块、图像处理模块与数据分析模块，所述图像分析模块对图像进行处理得到图像处理结果，所述图像处理模块对初始图像进行处理，所述数据分析模块对处理的图像进行图像校正。

优选的，所述图像输出系统包括报警模块、储存模块与显示模块，所述报警模块对中央处理器检测缺陷芯片进行报警，所述储存模块对测试中用到的图片进行存储，所述显示模块对中央处理器传输返回的图像结果进行解码转换，显示视频。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

该LED驱动芯片测试系统，能够基于物联网的图像分析系统利用物联网通信单元结合于图像的数据传输和分析，配合图像分析及处理单元，数据处理连续性强，有效提升图像的处理效率及处理完成度。

附图说明

图1为本发明的一种LED驱动芯片测试系统的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，在本申请实施例中阐述本发明。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”、“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。