[发明专利]一种大跨度多光轴平行性测试装置以及测试方法

说明书

本申请公开了一种大跨度多光轴平行性测试装置以及测试方法，包括发射单元、平行光管、标定单元和待测光电系统；发射单元发射第一光束至平行光管上，平行光管将第一光束反射，形成第二光束；第二光束能够入射至标定单元与待测光电系统中的任一待测负载上；标定单元包括第一、第二待标定镜组和反射镜组；第一、第二待标定镜组配合，能够形成第一标、第二标定位置与光束平行光路；反射镜组包括第一反射镜与第二反射镜，且两者分别设于第一、第二标定位置处；第一、第二反射镜配合，用于向另一待测负载出射与第二光束平行的光束，从而使两个待测负载能够接收到相互平行的光束。本申请通过平行光管与标定单元配合能够对大跨度光轴进行平行性测试。

技术领域

本公开一般涉及光学测试领域，具体涉及一种大跨度多光轴平行性测试装置以及测试方法。

背景技术

在多光路光电系统中，同时具有红外成像器、可见光成像器与激光测距机等不同类型的光电载荷，以实现对目标的多维度观测。该类系统中需要对各光电载荷进行光轴平行性调节和标定，从而实现各光电载荷对同一目标的稳定观测。

大型光电系统中各光电载荷之间的光轴空间跨度大，可达米级。在光轴平行性测试时仅使用平行光管对待测设备进行全口径覆盖的方法已不再适用。为此，本申请提出一种大跨度多光轴平行性测试装置以及测试方法能够有效解决上述问题。

发明内容

鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种适用于大跨度多光轴的大跨度多光轴平行性测试装置以及测试方法。

第一方面，本申请提供一种大跨度多光轴平行性测试装置，包括：

待测光电系统，所述待测光电系统包括至少两个待测负载；

发射单元，所述发射单元用于向平行光管发射第一光束；

平行光管，所述平行光管具有物镜，所述物镜能够将所述第一光束反射，形成第二光束；所述第二光束能够入射至所述待测光电系统中的任一待测负载上；

标定单元，所述标定单元位于所述平行光管与待测光电系统之间；所述标定单元包括第一待标定镜组、第二待标定镜组和反射镜组；

若所述第一待标定镜组接收到第二光束，并能够将其沿入射光路反射回所述发射单元处，则第一待标定镜组中形成第一标定位置；

所述第二待标定镜组包括白板，若所述白板能够接收所述第一待标定镜组出射的光束与其经由第二待标定镜组出射的光束，且两光束光斑重合，则此时第二待标定镜组中形成第二标定位置；

所述反射镜组包括第一反射镜与第二反射镜，且两者分别设于第一标定位置与第二标定位置处；所述第一反射镜与第二反射镜配合，用于向另一待测负载出射与第二光束平行的光束，从而使两个待测负载能够接收到相互平行的光束。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述第一待标定镜组包括：

第一调节支架，所述第一调节支架为所述第一标定位置；

分光镜，所述分光镜设置于所述第一调节支架上；所述分光镜用于接收所述第二光束；

第二调节支架，所述第二调节支架设置于第一调节支架远离平行光管的一侧；

第一棱镜，所述第一棱镜设置于所述第二调节支架上；所述第一棱镜用于接收分光镜的透射光束；

第三调节支架，所述第三调节支架沿垂直于所述第一调节支架与第二调节支架之间的连线设置；

第三反射镜，所述反射镜设置于所述第三调节支架上；所述第三反光镜用于接收分光镜与第一棱镜的反射光束，且将两光束沿其入射光路反射回发射单元。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述第二待标定镜组还包括：