[发明专利]一种复杂电子系统的故障诊断逻辑配置应用方法

权利要求书

1.一种复杂电子系统的故障诊断逻辑配置应用方法，其特征在于，包括：

测试性建模：用分层有向图表示信号流和故障之间的相互关系，定义信号传递与故障模式及状态测试之间的关联性，通过产品上层结构建模、产品底层故障依存建模、产品各层测试，用关联性表征故障和测试点的依赖关系，建立多信号流的测试性模型；

生成故障字典：用分层有向图解析故障模式、状态测试和信号传递之间的关系，生成相互性矩阵，作为故障字典，描述故障模式库、状态测试项和信号流之间的映射关系，提供系统诊断逻辑信息，反映系统在测试性状态的模糊组及冗余测试情况；

解构故障字典：构建判别向量，采用递进分类算法，设定故障字典矩阵，经四次二分类，得到装备诊断逻辑；

模型化编码：对被测设备及其测试项分层分级，以功能划分或物理结构向下穿透科学编码，编码时根据局部分布式信号传递关系，分团分簇，区域独立，按子父节点绑定测试项与设备编码；

定义语法规则：逻辑化描述复杂电子设备的故障字典，编写整机故障字典XML配置文件，根据使用参数定义规则、故障件模型编码规则、测试状态向量说明，建立故障模式编码结构和诊断逻辑配置结构。

2.根据权利要求1所述的复杂电子系统的故障诊断逻辑配置应用方法，其特征在于，所述产品上层结构建模包括：在模型图上建立产品模块及其输入、输出端口，逐个建立产品的下层结构模块及其端口，若下层结构自带故障模式，则建立该层的故障模式，直至所有下层模块建立完成，若下层模块存在冗余，则建立与门，若下层模块存在多种工作模式，则建立开关，将下层模块、与门、开关连接；

所述产品底层故障依存建模包括：建立产品底层故障模式，设置模式影响、阻隔、转换的信号，若下层模块存在冗余，则建立与门，若下层模块存在多种工作模式，则建立开关，将底层故障模式、与门、开关连接；

所述产品各层测试包括：先建立产品下层模块端口的测试、设置测试信号，再建立产品底层故障模式的测试、设置测试信号。

3.根据权利要求2所述的复杂电子系统的故障诊断逻辑配置应用方法，其特征在于，所述多信号流模型包括：一组表示潜在故障源的有限元件集F＝{F₁,F₂,...F_n}、一组与系统相关的依赖信号集S＝{S₁,S₂,...S_n}、一组有限可得的测试集T＝{T₁,T₂,...T_k}、一组有限集大小为P的测试点集TP＝{TP₁,TP₂,...TP_h}、与每个测试点TP相关的一组测试T、每个元件影响的一组信号集S_Ω(F)、每个测试能检测的一组信号子集S_Θ(T)。

4.根据权利要求3所述的复杂电子系统的故障诊断逻辑配置应用方法，其特征在于，还包括：假设被测对象的状态取决于各组成单元的状态，具有二值性，非0即1，正常状态表示无故障可以正常工作，故障状态表示不能正常工作，不存在中间态。

5.根据权利要求4所述的复杂电子系统的故障诊断逻辑配置应用方法，其特征在于，还包括：被测对象发生故障时，信息流可达的各测试点的测试有效性相同，各测试点的贡献度均为1，不随信息流的延伸发生衰减。

6.根据权利要求1所述的复杂电子系统的故障诊断逻辑配置应用方法，其特征在于，所述设定故障字典矩阵包括：用{F_i}表示集合表征装备故障模式库，{T_j}表示装备测试项的集合，a_ij表示F_i与T_j的相关关系，装备状态监测实时报文经预处理整合，用矩阵测试项顺序排列，得到测试结果{R_j}＝{R₁,R₂,...R_n}。