[发明专利]一种多线宽线段端点反走样处理方法和系统

权利要求书

1.一种多线宽线段端点反走样处理方法，其特征在于，包括：

获取多线宽线段的起始点坐标、终止点坐标和线宽；所述起始点和终止点分别为多线宽线段两端的中点；

根据线宽计算起始点坐标或终止点坐标的上方添加的像素点个数；

根据线宽计算起始点坐标或终止点坐标的下方添加的像素点个数；

根据起始点坐标计算起始点的权重值，包括：

根据以下公式计算起始点的权重值：

s_w＝1-(x_s-floor(x_s))；

其中，s_w为起始点的权重值；x_s为起始点坐标的横坐标值；

根据终止点坐标计算终止点的权重值，包括：

根据以下公式计算终止点的权重值：

e_w＝1-(ceil(x_e)-x_e)；

其中，e_w为终止点的权重值；x_e为终止点坐标的横坐标值；

根据起始点的权重值，计算起始点坐标上下方添加的像素点的像素值；

根据终止点的权重值，计算终止点坐标上下方添加的像素点的像素值；

以起始点坐标上下方添加的像素点的像素值为基础像素值，通过四线渐变反走样算法完成起始点处待反走样处理的像素点的反走样；

以终止点坐标上下方添加的像素点的像素值为基础像素值，通过四线渐变反走样算法完成终止点处待反走样处理的像素点的反走样。

2.根据权利要求1所述的多线宽线段端点反走样处理方法，其特征在于，所述根据线宽计算起始点坐标或终止点坐标的上方添加的像素点个数，包括：

根据以下公式计算起始点坐标和或终止点坐标的上方添加的像素点个数：

d_n＝ceil((W-2)/2)；

其中，d_n为起始点坐标和或终止点坐标的上方添加的像素点个数；W为线段的线宽。

3.根据权利要求1所述的多线宽线段端点反走样处理方法，其特征在于，所述根据线宽计算起始点坐标或终止点坐标的下方添加的像素点个数，包括：

根据以下公式计算起始点坐标和或终止点坐标的下方添加的像素点个数：

u_n＝floor((W-2)/2)；

其中，u_n为起始点坐标和或终止点坐标的下方添加的像素点个数；W为线段的线宽。

4.根据权利要求1所述的多线宽线段端点反走样处理方法，其特征在于，所述根据起始点的权重值，计算起始点坐标上下方添加的像素点的像素值，包括：

根据以下公式计算起始点坐标上下方添加的像素点的像素值：

G_s＝G×s_w；

其中，G_s为起始点坐标上下方添加的像素点的像素值；G为像素点的基础像素值；s_w为起始点的权重值。

5.根据权利要求1所述的多线宽线段端点反走样处理方法，其特征在于，所述根据终止点的权重值，计算终止点坐标上下方添加的像素点的像素值，包括：

根据以下公式计算终止点坐标上下方添加的像素点的像素值：

G_e＝G×e_w；

其中，G_e为终止点坐标上下方添加的像素点的像素值；G为像素点的基础像素值；e_w为终止点的权重值。