[发明专利]一种LabVIEW的测试系统的优化方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明涉及智能决策技术，揭露了一种LabVIEW的测试系统的优化方法，包括：识别待测设备的参数，得到设备参数，对设备参数进行特征提取，得到特征参数；查询待测设备的的工作链路，对特征参数进行排序，得到排序参数，对排序参数进行信号解析，得到数字信号；获取待测设备的运行环境，在虚拟测试机中构建待测设备的虚拟测试环境；运行待测设备，得到运行结果，获取测试链路，定位测试链路的节点，得到链路节点，获取链路节点的节点信号，将数字信号与节点信号进行匹配，得到匹配结果；分别获取测试链路与工作链路的第一链路图和第二链路图，计算第一链路图和第二链路图的关联度，结合匹配结果与关联度，得到测试结果。本发明在于优化LabVIEW的测试系统。

技术领域

本发明涉及智能决策技术领域，尤其涉及一种LabVIEW的测试系统的优化方法、装置、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

随着科学技术和生产力的不断发展，测控任务越来越复杂，测控系统日益庞大，所以要求数据采集测试系统的速度和性能必须要提高，因此高性能的数据采集测试系统在当今显得尤为重要。计算机技术与测试测量仪器技术的结合，出现了新的测试仪器--虚拟测试机，虚拟测试机取代了传统的测试仪器，但是现有的虚拟测试机是通过收集待测设备的参数，并对参数进行模拟测试，得到测试结果，该方法测试方式较为单一，测试的准确性较低，进而导致测试的结果与待测设备的真实结果具有一定的偏差，因此需要一种LabVIEW的测试系统的优化方法。

发明内容

本发明提供一种LabVIEW的测试系统的优化方法、装置、设备及存储介质，其主要目的在于优化LabVIEW的测试系统。

为实现上述目的，本发明提供的一种LabVIEW的测试系统的优化方法，包括：

获取待测设备，识别所述待测设备的参数，得到设备参数，对所述设备参数进行特征提取，得到特征参数；

查询所述待测设备的工作原理，获取所述工作原理对应的工作链路，根据所述工作链路，对所述特征参数进行排序，得到排序参数，对所述排序参数进行信号解析，得到数字信号；

获取所述待测设备的运行环境，根据所述运行环境和所述特征参数，在所述虚拟测试机中构建所述待测设备的虚拟测试环境；

在所述虚拟测试环境中运行所述待测设备，得到运行结果，根据所述运行结果获取测试链路，定位所述测试链路的节点，得到链路节点，获取所述链路节点的节点信号，将所述数字信号与节点信号进行匹配，得到匹配结果；

分别获取所述测试链路与所述工作链路对应的的链路图，得到第一链路图和第二链路图，计算所述第一链路图和所述第二链路图的关联度，结合所述匹配结果与所述关联度，得到所述待测设备的测试结果。

可选地，所述识别所述待测设备的参数，得到设备参数，包括：

获取所述待测设备的设备型号；

根据所述设备型号，查阅所述待测设备的参数；

对所述参数进行无效参数的去除，得到设备参数。

可选地，所述对所述设备参数进行特征提取，得到特征参数，包括：

获取所述设备参数对应的空间向量；

检测所述待测设备的设备名称，识别所述设备名称的文本信息；

计算所述空间向量中每个向量与所述文本信息的支持度；

在所述支持度大于预设值时，将所述支持度对应的所述空间向量作为特征向量；

并提取所述特征向量对应的参数，得到特征参数。

可选地，所述获取所述工作原理对应的工作链路，包括：

获取所述工作原理的流程图，提取所述流程图中的工作站点；