[发明专利]高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统在审

专利信息
申请号: 202211128574.8 申请日: 2022-09-16
公开(公告)号: CN115420701A 公开(公告)日: 2022-12-02
发明(设计)人: 史泽林;庞明琪;刘海峥;祝东远;张代军 申请(专利权)人: 中国科学院沈阳自动化研究所
主分类号: G01N21/3504 分类号: G01N21/3504;G01N21/01
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 周宇
地址: 110016 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 高温 高压 气体 红外 辐射 吸收光谱 测量 系统
【权利要求书】:

1.高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,包括光源(1),以及沿光路依次设置的第一卡塞格伦双反射系统(2)、气体池(3)、第二卡塞格伦双反射系统(4)和光谱仪(5);所述第一卡塞格伦双反射系统(2)包括第一主镜(6),第一次镜(7);所述第二卡塞格伦双反射系统(4)包括第二主镜(8),第二次镜(9);所述第一卡塞格伦双反射系统(2)、第二卡塞格伦双反射系统(4)的位置相对气体池(3)成镜像;所述气体池(3)中心设于第一卡塞格伦双反射系统(2)、第二卡塞格伦双反射系统(4)的主镜交点处,其内充满待测的高温高压气体,且气体池(3)两侧为红外输入、输出窗口,用于红外辐射穿透;所述光源(1)为红外辐射源,且置于第一卡塞格伦双反射系统(2)的次镜焦点处;所述光谱仪(5)置于第二卡塞格伦双反射系统(4)的次镜焦点处。

2.根据权利要求1所述的高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,所述光源(1)为黑体、硅碳棒、钨丝灯的其中一种。

3.根据权利要求1所述的高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,所述第一卡塞格伦双反射系统(2)、第二卡塞格伦双反射系统(4)的主镜为椭球面镜,向内凹的一面为工作面,且所述主镜中心开通光孔,所述通光孔半径小于次镜镜面半径。

4.根据权利要求1所述的高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,所述第一卡塞格伦双反射系统(2)、第二卡塞格伦双反射系统(4)的次镜为双曲面镜,双曲面的其中一面为工作面,朝向光源或光谱仪;所述主镜的工作面与所述次镜的工作面相对设置。

5.根据权利要求1所述的高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,所述气体池(3)为不透光金属材质,两侧的输入、输出窗口材料可透过2-15μm红外波段光源、透光率大于90%。

6.根据权利要求5所述的高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,所述气体池(3)两侧的输入、输出窗口材料为ZnSe材料。

7.根据权利要求1或5所述的高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,所述气体池(3)内设有加热器。

8.根据权利要求1或5所述的高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,所述气体池(3)连接高压充气装置。

9.根据权利要求1所述的高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,所述光谱仪(5)为红外光谱仪,测量范围覆盖2-15μm波段。

10.根据权利要求1所述的高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,以气体池(3)的中心为对称轴的单侧光路器件的结构参数包括:

已知主镜、次镜的面型方程,主镜与次镜的面间距d;

次镜直径

主镜开孔直径

主镜直径D1满足:

其中,a2为次镜实半轴的长度;c2为次镜两个几何焦点P2和P2’之间距离的一半;Fe为光谱仪(5)的F数;a1为主镜长半轴的长度;c1为主镜两个几何焦点P1和P1’之间距离的一半;α为卡塞格伦双反射镜的遮拦比;D4为气体池红外窗口通光孔径;l1为气体池3的中心到单侧红外窗口的距离。

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