[发明专利]高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统在审
申请号: | 202211128574.8 | 申请日: | 2022-09-16 |
公开(公告)号: | CN115420701A | 公开(公告)日: | 2022-12-02 |
发明(设计)人: | 史泽林;庞明琪;刘海峥;祝东远;张代军 | 申请(专利权)人: | 中国科学院沈阳自动化研究所 |
主分类号: | G01N21/3504 | 分类号: | G01N21/3504;G01N21/01 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 周宇 |
地址: | 110016 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 高温 高压 气体 红外 辐射 吸收光谱 测量 系统 | ||
1.高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,包括光源(1),以及沿光路依次设置的第一卡塞格伦双反射系统(2)、气体池(3)、第二卡塞格伦双反射系统(4)和光谱仪(5);所述第一卡塞格伦双反射系统(2)包括第一主镜(6),第一次镜(7);所述第二卡塞格伦双反射系统(4)包括第二主镜(8),第二次镜(9);所述第一卡塞格伦双反射系统(2)、第二卡塞格伦双反射系统(4)的位置相对气体池(3)成镜像;所述气体池(3)中心设于第一卡塞格伦双反射系统(2)、第二卡塞格伦双反射系统(4)的主镜交点处,其内充满待测的高温高压气体,且气体池(3)两侧为红外输入、输出窗口,用于红外辐射穿透;所述光源(1)为红外辐射源,且置于第一卡塞格伦双反射系统(2)的次镜焦点处;所述光谱仪(5)置于第二卡塞格伦双反射系统(4)的次镜焦点处。
2.根据权利要求1所述的高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,所述光源(1)为黑体、硅碳棒、钨丝灯的其中一种。
3.根据权利要求1所述的高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,所述第一卡塞格伦双反射系统(2)、第二卡塞格伦双反射系统(4)的主镜为椭球面镜,向内凹的一面为工作面,且所述主镜中心开通光孔,所述通光孔半径小于次镜镜面半径。
4.根据权利要求1所述的高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,所述第一卡塞格伦双反射系统(2)、第二卡塞格伦双反射系统(4)的次镜为双曲面镜,双曲面的其中一面为工作面,朝向光源或光谱仪;所述主镜的工作面与所述次镜的工作面相对设置。
5.根据权利要求1所述的高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,所述气体池(3)为不透光金属材质,两侧的输入、输出窗口材料可透过2-15μm红外波段光源、透光率大于90%。
6.根据权利要求5所述的高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,所述气体池(3)两侧的输入、输出窗口材料为ZnSe材料。
7.根据权利要求1或5所述的高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,所述气体池(3)内设有加热器。
8.根据权利要求1或5所述的高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,所述气体池(3)连接高压充气装置。
9.根据权利要求1所述的高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,所述光谱仪(5)为红外光谱仪,测量范围覆盖2-15μm波段。
10.根据权利要求1所述的高温高压气体红外辐射-吸收光谱测量系统,其特征在于,以气体池(3)的中心为对称轴的单侧光路器件的结构参数包括:
已知主镜、次镜的面型方程,主镜与次镜的面间距d;
次镜直径
主镜开孔直径
主镜直径D1满足:
其中,a2为次镜实半轴的长度;c2为次镜两个几何焦点P2和P2’之间距离的一半;Fe为光谱仪(5)的F数;a1为主镜长半轴的长度;c1为主镜两个几何焦点P1和P1’之间距离的一半;α为卡塞格伦双反射镜的遮拦比;D4为气体池红外窗口通光孔径;l1为气体池3的中心到单侧红外窗口的距离。
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