[发明专利]LED显示屏像素饱和度的评估方法、装置、系统及介质

权利要求书

1.一种LED显示屏像素饱和度的评估方法，其特征在于，包括：

获取光学成像设备拍摄LED显示屏单基色的显示图像；

将所述显示图像等间距分割为多个单元块，每个所述单元块的像素总数相等；

检索所述单元块中像素的亮度值，并统计亮度值大于或等于预设亮度阈值的像素个数，所述预设亮度阈值为所述单元块中像素的最大亮度值的预设倍数；

根据所述像素个数占所述像素总数的比例，计算得到所述LED显示屏的像素填充率。

2.根据权利要求1所述的一种LED显示屏像素饱和度的评估方法，其特征在于，所述统计亮度值大于或等于预设亮度阈值的像素个数，包括：

将亮度值大于或等于预设亮度阈值的像素的灰度值，赋值为所述单元块中最大亮度值的像素对应的最高灰度值；

统计所述单元块中最高灰度值的像素个数。

3.根据权利要求1所述的一种LED显示屏像素饱和度的评估方法，其特征在于，所述根据所述像素个数占所述像素总数的比例，计算得到所述LED显示屏的像素填充率，包括：

根据所述像素个数占所述像素总数的比例，计算得到每个所述单元块的像素填充率，以及全部所述单元块的平均像素填充率；

剔除大于预设填充阈值的所述单元块的像素填充率，保留小于或等于预设填充阈值的所述单元块的像素填充率，所述预设填充阈值为所述平均像素填充率的预设倍数；

计算保留的所述单元块的像素填充率的平均值，得到所述LED显示屏的像素填充率。

4.根据权利要求1所述的一种LED显示屏像素饱和度的评估方法，其特征在于，所述光学成像设备拍摄LED显示屏单基色的显示图像时，所述光学成像设备接收到的光强与所述LED显示屏正面发出的光强的差异小于5％。

5.根据权利要求1所述的一种LED显示屏像素饱和度的评估方法，其特征在于，所述光学成像设备拍摄LED显示屏单基色的显示图像时，所述光学成像设备与所述LED显示屏的距离x满足以下公式：

h为所述LED显示屏的高度，为所述光学成像设备的光轴与所述LED显示屏最高点所成的角度，且

6.根据权利要求1所述的一种LED显示屏像素饱和度的评估方法，其特征在于，在计算得到所述LED显示屏的像素填充率之后，还包括：

判断所述像素填充率是否大于或等于70％且小于或等于80％，来评估所述LED显示屏像素饱和度是否合格。

7.一种LED显示屏像素饱和度的评估装置，其特征在于，包括图像获取模块、FPGA处理模块和DSP处理模块，所述FPGA处理模块分别与所述图像获取模块和所述DSP处理模块连接；

所述图像获取模块，用于获取光学成像设备拍摄LED显示屏单基色的显示图像，并将所述显示图像传输至所述FPGA处理模块；

所述FPGA处理模块，用于将所述显示图像等间距分割为多个单元块，并将所述单元块传输至所述DSP处理模块，其中，每个所述单元块的像素总数相等；

所述DSP处理模块，用于检索所述单元块中像素的亮度值，并统计亮度值大于或等于预设亮度阈值的像素个数，根据所述像素个数占所述像素总数的比例，计算得到所述LED显示屏的像素填充率，其中，所述预设亮度阈值为所述单元块中像素的最大亮度值的预设倍数。

8.根据权利要求7所述的一种LED显示屏像素饱和度的评估装置，其特征在于，所述FPGA处理模块还用于根据所述像素填充率评估所述LED显示屏像素饱和度是否合格。

9.一种评估系统，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述方法的步骤。