[发明专利]测试治具及测试系统

说明书

本申请提供一种测试治具及测试系统。包括底座和顶盖，底座包括第一主体和第一测试体，第一主体包括相背设置的第一表面和第二表面，第一测试体设于第一主体内且与第一主体绝缘，第一测试体自第一表面延伸至第二表面，第一测试体沿第一方向的截面宽度自第一表面向第二表面逐渐变化，第一方向为测试治具的高度方向；顶盖与底座之间具有间隙，间隙用于容置待测物，顶盖包括第二主体和第二测试体，第二测试体设于第二主体内且与第二主体电连接，第二测试体与第一测试体均与待测物接触。本申请的技术方案有利于准确的获得电连接单体的工作高度、受力等情况，提高电连接单体的非线性特征的测试结果准确性。

技术领域

本申请涉及测试技术领域，尤其涉及一种测试治具及测试系统。

背景技术

非线性单体测试是终端设计所需要的测试环境，其作用是测量终端内电连接单体(如金属弹片、导电泡棉、导电胶等)的非线性特征(如谐波、互调等)。而在测试系统中，现有的测试治具结构难以准确的获得电连接单体的工作高度、受力等情况，易对电连接单体的非线性特征的测试结果产生不良影响。

发明内容

本申请的实施例提供一种测试治具及测试系统，有利于准确的获得电连接单体的工作高度、受力等情况，提高电连接单体的非线性特征的测试结果准确性。

第一方面，本申请提供一种测试治具，所述测试治具包括：

底座，所述底座包括第一主体和第一测试体，所述第一主体包括相背设置的第一表面和第二表面，所述第一测试体设于所述第一主体内且与所述第一主体绝缘，所述第一测试体自所述第一表面延伸至所述第二表面，所述第一测试体沿第一方向的截面宽度自所述第一表面向所述第二表面逐渐变化，所述第一方向为所述测试治具的高度方向；及

顶盖，所述顶盖与所述底座之间具有间隙，所述间隙用于容置待测物，所述顶盖包括第二主体和第二测试体，所述第二测试体设于所述第二主体内且与所述第二主体电连接，所述第二测试体与所述第一测试体均与所述待测物接触。

可以理解的是，间隔设置的底座和顶盖可以使测试治具整体呈现分层架构，分层架构的测试治具能够使底座靠近待测物的下表面设置，顶盖靠近待测物的上表面设置，从而使待测物的上下表面分离，避免待测物所受应力影响测试的精度，有利于更好的对待测物进行工作高度和受力情况的测试，测试结果的准确性强。

而第一测试体沿第一方向的截面宽度自第一表面向第二表面逐渐变化可以使第一测试体沿第一方向的截面宽度呈现变化趋势，有利于更好的进行阻抗匹配，且加工也较为简便。另外，第一测试体沿第一方向的长度的调整也有利于更好的进行阻抗匹配。

一种可能的实施方式中，所述第一测试体包括第一测试面，所述第二测试体包括第二测试面，所述第一测试面与所述第二测试面相对设置，所述第一测试面与所述第二测试面均与所述待测物接触，所述第二测试面的面积大于或等于所述第一测试面的面积。

可以理解的是，当第二测试面的面积大于第一测试面的面积时，能够保证在顶盖和底座未完全对齐时测试治具的高频特性稳定。

一种可能的实施方式中，所述第二测试面的表面加工工艺包括镭雕或镀金。

此设置下，可以通过更换具有不同表面特性的第二测试体来对待测物应用在多种表面的电连接特性进行测试，灵活性强。

一种可能的实施方式中，所述测试治具还包括介质块，所述第一表面凹设有第一收容槽，部分所述第一测试体位于所述第一收容槽，所述介质块设于所述第一收容槽，所述介质块连接在所述第一测试体和所述第一主体之间。

可以理解的是，介质块能够充当电介质，并将第一主体与第一测试体绝缘设置。而介质块具有良好的电绝缘性能，可选用任何满足介电常数较低、损耗角较小、硬度较高的材质制备，例如，介质块的材质可以为塑胶。