[发明专利]一种空间电子探测器在审
| 申请号： | 202211161586.0 | 申请日： | 2022-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN115542374A | 公开（公告）日： | 2022-12-30 |
| 发明（设计）人： | 王永福;杨芯;王玲华;于向前;施伟红;陈傲;宗秋刚;陈鸿飞;周率 | 申请（专利权）人： | 北京大学 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36;G01T1/38 |
| 代理公司： | 北京汉之知识产权代理事务所(普通合伙) 11479 | 代理人： | 高园园 |
| 地址： | 100871*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 空间 电子 探测器 | ||
1.一种空间电子探测器，其特征在于，包括：
外壳，所述外壳围成上表面与下表面贯通的圆柱形结构；
第一准直仪，设置于所述外壳中，所述第一准直仪自所述外壳的内壁沿径向延伸，形成圆环结构；
第二准直仪，设置于所述外壳中，所述第二准直仪自所述外壳的内壁沿径向延伸，形成圆环结构，且与所述第一准直仪同轴排布；
探测器，与所述第二准直仪相对设置，以使电子依次穿过所述第一准直仪、所述第二准直仪后到达所述探测器；
其中，所述第二准直仪的内径小于所述第一准直仪的内径，且所述圆环结构上表面的内径大于所述圆环结构下表面的内径。
2.根据权利要求1所述的空间电子探测器，其特征在于，所述第一准直仪与所述第二准直仪的厚度相等，介于1.3mm～1.7mm之间。
3.根据权利要求1所述的空间电子探测器，其特征在于，所述圆环结构上表面的内径与所述圆环结构下表面的内径的差值介于0.6mm～0.8mm之间。
4.根据权利要求3所述的空间电子探测器，其特征在于，所述第一准直仪下表面的内径介于6.3mm～6.7mm之间。
5.根据权利要求3所述的空间电子探测器，其特征在于，所述第二准直仪下表面的内径介于5.3mm～5.7mm之间。
6.根据权利要求5所述的空间电子探测器，其特征在于，所述第二准直仪与所述探测器之间的距离介于8.985mm～8.615mm之间。
7.一种空间电子探测器，其特征在于，包括：
外壳，所述外壳围成上表面与下表面贯通的圆柱形结构；
第一准直仪，设置于所述外壳中，所述第一准直仪自所述外壳的内壁沿径向延伸，形成圆环结构；
第二准直仪，设置于所述外壳中，所述第二准直仪自所述外壳的内壁沿径向延伸，形成圆环结构，且与所述第一准直仪同轴排布；
第三准直仪，设置于所述外壳中，所述第三准直仪自所述外壳的内壁沿径向延伸，形成圆环结构，且与所述第一准直仪同轴排布；
探测器，与所述第三准直仪相对设置，以使电子依次穿过所述第一准直仪、所述第二准直仪、所述第三准直仪后到达所述探测器；
其中，所述第三准直仪的内径小于所述第二准直仪的内径，所述第二准直仪的内径小于所述第一准直仪的内径，且所述圆环结构上表面的内径大于所述圆环结构下表面的内径。
8.根据权利要求7所述的空间电子探测器，其特征在于，所述第一准直仪、所述第二准直仪及所述第三准直仪的厚度相等，介于0.8mm～1.2mm之间。
9.根据权利要求7所述的空间电子探测器，其特征在于，所述圆环结构上表面的内径与所述圆环结构下表面的内径的差值介于0.4mm～0.6mm之间。
10.根据权利要求9所述的空间电子探测器，其特征在于，所述第一准直仪下表面的内径介于6.3mm～6.7mm之间。
11.根据权利要求9所述的空间电子探测器，其特征在于，所述第二准直仪下表面的内径介于5.8mm～6.2mm之间。
12.根据权利要求9所述的空间电子探测器，其特征在于，所述第三准直仪下表面的内径介于5.3mm～5.7mm之间。
13.根据权利要求12所述的空间电子探测器，其特征在于，所述第三准直仪与所述探测器之间的距离介于5.99mm～6.36mm之间。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京大学，未经北京大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211161586.0/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
