[发明专利]硅基OLED微型显示屏残影量化评估方法

权利要求书

1.硅基OLED微型显示屏的残影量化评估方法，其特征在于该方法采用高对比度的棋盘格作为测试画面，当显示屏连续显示棋盘格规定时间后，切换为单色画面，利用工业级COMS数字面阵相机采集测试图像，再通过计算机对采集到的测试图像进行处理和特征值提取，处理测试图像以增强图像特征；最后获取当前测试图像灰度变化值与残影判定阈值对比。

2.如权利要求1所述的硅基OLED微型显示屏的残影量化评估方法，其特征在于图像处理方法为先对图像进行平滑滤波，去除噪点；再进行锐化滤波，识别和提取单色画面中残留的棋盘格边缘，最终得到明区和暗区明显的处理图像。

3.如权利要求1所述的硅基OLED微型显示屏的残影量化评估方法，其特征在于测试图像灰度变化值的计算方法为：采用分区积分逐个计算棋盘格单色画面灰度积分值，所述单色画面灰度差异值为暗区与相邻四个明区的灰度积分值的累积值，测试画面中单色画面灰度差异值的算术平均值，即为测试图像灰度变化值。

4.如权利要求3所述的硅基OLED微型显示屏的残影量化评估方法，其特征在于采用分区积分逐个计算棋盘格灰度差异值，计算公式为：

Integral(m，n)＝Integral(m，n-j)+Integral(m-i，n)+Integral(m-i，n-j)+Image(m，n)

式中，m，n分别为棋盘格暗区和明区在长度方向和宽度方向的数量之和；

Integral(m，n)为原点(0,0)到(m,n)位置的灰度积分值；

Integral(m，n-j)为原点(0,0)到(m,n-j)位置的灰度积分值；

Integral(m-i，n)为原点(0,0)到(m-i,n)位置的灰度积分值；

Integral(m-i，n-j)为原点(0,0)到(m-i,n-j)位置的灰度积分值；

Image(m，n)为暗区矩形单元B_m,n的灰度差异值；

计算测试图像灰度变化值，计算公式为：

。

5.如权利要求1所述的硅基OLED微型显示屏的残影量化评估方法，其特征在于使用测试图像灰度变化值与残影判定阈值对比，判别标准如下：

残影等级划分

残影等级	判定依据
0级	t≤Vth]]>
Ⅰ级	th＜Vt≤1.5Vth]]>
Ⅱ级	t＞1.5Vth]]>