[发明专利]一种光电探测电路及显示装置

说明书

本发明提供了一种光电探测电路及显示装置，光电探测电路中设置一与主光感晶体管处于同一光照环境条件下的辅助光感晶体管，通过第一阈值抓取补偿单元将辅助光感晶体管的阈值电压抓取并补偿至主光感晶体管的栅极，进而，能够减小主光感晶体管的阈值电压的偏移对其生成的光电信号的影响，改善主光感晶体管由于特性漂移导致输出的光电信号失真的情况，进而提高了光电探测电路的探测精度。

技术领域

本发明涉及光电探测技术领域，更为具体地说，涉及一种光电探测电路及显示装置。

背景技术

目前，现有显示装置中的光电探测电路中，一般采用将光照强度转换为光电信号的光感晶体管与分析处理电路相连，其中，光感晶体管根据光照强度生成光电信号输出，而后分析处理电路对该光电信号进行检测，以确定当前的光照强度。但是，现有的光感晶体管在长时间被光照及长时间施加直流偏压后导致其特性漂移，由此导致光感晶体管输出的光电信号失真，使得光电探测电路的探测精度低。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种光电探测电路及显示装置，有效解决现有存在的技术问题，改善主光感晶体管由于特性漂移导致输出的光电信号失真的情况，进而提高了光电探测电路的探测精度。

为实现上述目的，本发明提供的技术方案如下：

一种光电探测电路，包括：

主光感晶体管，所述主光感晶体管的第一端与第一固定电压端电连接，所述主光感晶体管的第二端用于输出光电信号；

辅助光感晶体管，所述辅助光感晶体管和所述主光感晶体管均位于同一光照环境条件；

以及，第一阈值抓取补偿单元，所述第一阈值抓取补偿单元与所述主光感晶体管和所述辅助光感晶体管均电连接，所述第一阈值抓取补偿单元用于获取所述辅助光感晶体管的阈值电压，并将所述辅助光感晶体管的阈值电压补偿至所述主光感晶体管的栅极。

相应的，本发明还提供了一种显示装置，所述显示装置包括上述的光电探测电路。

相较于现有技术，本发明提供的技术方案至少具有以下优点：

本发明提供了一种光电探测电路及显示装置，包括：主光感晶体管，所述主光感晶体管的第一端与第一固定电压端电连接，所述主光感晶体管的第二端用于输出光电信号；辅助光感晶体管，所述辅助光感晶体管和所述主光感晶体管均位于同一光照环境条件；以及，第一阈值抓取补偿单元，所述第一阈值抓取补偿单元与所述主光感晶体管和所述辅助光感晶体管均电连接，所述第一阈值抓取补偿单元用于获取所述辅助光感晶体管的阈值电压，并将所述辅助光感晶体管的阈值电压补偿至所述主光感晶体管的栅极。

由上述内容可知，本发明提供的技术方案，光电探测电路中设置一与主光感晶体管处于同一光照环境条件下的辅助光感晶体管，通过第一阈值抓取补偿单元将辅助光感晶体管的阈值电压抓取并补偿至主光感晶体管的栅极，进而，能够减小主光感晶体管的阈值电压的偏移对其生成的光电信号的影响，改善主光感晶体管由于特性漂移导致输出的光电信号失真的情况，进而提高了光电探测电路的探测精度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种光电探测电路的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的另一种光电探测电路的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的又一种光电探测电路的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的一种时序图；

图5为本发明实施例提供的又一种光电探测电路的结构示意图；