[发明专利]电磁辐射反距离权重延展空间插值方法及装置

说明书

本发明公开了一种电磁辐射反距离权重延展空间插值方法及装置，其中该方法包括：获取电磁辐射监测区域的不均匀电磁辐射采样数据；根据期望最近邻近距离在采样数据范围内生成规则分布的预设点；根据Ripley’s K方法对所述预设点由外向内分为多个层次；对所述多个层次的预设点采用IDW延展空间插值方法生成每个预设点的电磁辐射值；每个预设点的电磁辐射值用于构建电磁辐射空间场。本发明可以提高IDW插值精度，进而提高非均匀采样点分布的电磁辐射空间场构建的精度。

技术领域

本发明涉及电磁辐射空间插值技术领域，尤其涉及一种非均匀采样点分布的电磁辐射反距离权重延展空间插值方法及装置。

背景技术

本部分旨在为权利要求书中陈述的本发明实施例提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。

随着高频微波技术在变电站、高压输变电线路和移动通讯基站等方面的迅速发展，环境中的电磁辐射水平逐渐上升，电磁污染现在已成为继水污染、空气污染和噪声污染之后的第四大污染源。电磁辐射可能会对细胞的生理活动和遗传物质等产生一定影响，也能够对人体心血管、神经、生殖等多个系统产生作用，对公众健康可能构成潜在的影响和威胁。获取电磁辐射强度，构建电磁辐射空间场有助于城市电磁污染监测及防治。

反距离权重插值方法(Inverse Distance Weighted，IDW)是插值点与样本点间的距离为权重进行加权平均，在插值过程中只需考虑插值点与邻近点间的距离，是可用于构建电磁辐射。但受建筑的影响，电磁辐射数据通常沿着街道或道路进行采集，数据分布不均，采样区域局部呈线状分布，中心区域出现大面积的空缺，导致IDW插值精度不高。因此，直接利用IDW进行电磁辐射空间场的构建存在一定的问题，非均匀采样点分布的电磁辐射空间场构建精度也低。

发明内容

本发明实施例提供一种电磁辐射反距离权重延展空间插值方法，用以提高IDW插值精度，进而提高非均匀采样点分布的电磁辐射空间场构建的精度，该方法包括：

获取电磁辐射监测区域的不均匀电磁辐射采样数据；

根据期望最近邻近距离在采样数据范围内生成规则分布的预设点；

根据Ripley’s K方法对所述预设点由外向内分为多个层次；

对所述多个层次的预设点采用IDW延展空间插值方法生成每个预设点的电磁辐射值；每个预设点的电磁辐射值用于构建电磁辐射空间场。

本发明实施例还提供一种电磁辐射反距离权重延展空间插值装置，用以提高IDW插值精度，进而提高非均匀采样点分布的电磁辐射空间场构建的精度，该装置包括：

获取单元，用于获取电磁辐射监测区域的不均匀电磁辐射采样数据；

生成单元，用于根据期望最近邻近距离在采样数据范围内生成规则分布的预设点；

分层单元，用于根据Ripley’s K方法对所述预设点由外向内分为多个层次；

插值单元，用于对所述多个层次的预设点采用IDW延展空间插值方法生成每个预设点的电磁辐射值；每个预设点的电磁辐射值用于构建电磁辐射空间场。

本发明实施例还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述电磁辐射反距离权重延展空间插值方法。

本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述电磁辐射反距离权重延展空间插值方法。

本发明实施例还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述电磁辐射反距离权重延展空间插值方法。