[发明专利]利用平行光检测物体尺寸的方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种利用平行光检测物体尺寸的方法，其特征在于，应用于计算机设备，所述方法包括：

获取平行光从若干个照射角度照射在标准物体上产生的若干个阴影面积信息；

保存所述平行光从若干个照射角度照射在标准物体上产生的若干个阴影面积信息至数据库；

获取所述平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息；

将所述待检测物体所产生的阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积进行比对，计算所述待检测物体所产生的阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积的差值，若两者差值在预设范围内，则判定所述待检测物体尺寸为合格。

2.根据权利要求1所述的一种利用平行光检测物体尺寸的方法，其特征在于，所述获取平行光从若干个预设角度照射在标准物体上所产生的若干个阴影面积，包括：

所述平行光为菲涅尔透镜聚焦产生的光线；

在不改变所述标准物体的位置的前提下，只改变所述平行光的照射角度，保证在每次改变所述平行光的照射角度时，平行光光源与所述标准物体的距离相同，不断改变平行光的照射角度，产生若干个阴影面积，获取所述若干个阴影面积信息。

3.根据权利要求1所述的一种利用平行光批量检测物体尺寸的方法，其特征在于，所述获取所述平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息，包括：

所述待检测物体具有随机的摆放角度，平行光的照射角度固定；

获取所述平行光照射待检测物体所产生的特定阴影面积信息。

4.根据权利要求1所述的一种利用平行光批量检测物体尺寸的方法，其特征在于，所述获取所述平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息，还包括：

所述待检测物体具有随机的摆放角度，且所述待检测物体具有特定的待检测面，平行光的照射角度不固定；

根据所述待检测物体具有随机的摆放角度，控制所述平行光照射所述待检测物体的特定的待检测面；

获取所述平行光照射所述待检测物体的特定的待检测面所产生的阴影面积信息。

5.根据权利要求1所述的一种利用平行光检测物体尺寸的方法，其特征在于，所述获取所述平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息之前，还包括：

调整平行光光源与所述待检测物体的距离，使所述平行光光源与所述待检测物体的距离对应所述数据库中的平行光光源与标准物体的距离。

6.根据权利要求1所述的一种利用平行光检测物体尺寸的方法，其特征在于，所述将所述待检测物体所产生的阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积进行比对，包括：

若所述数据库中不存在能与所述待检测物体所产生的阴影面积对应的阴影面积；

保存本次所述平行光从特定角度照射所述待检测物体所产生的阴影面积至所述数据库；

并发送报警信息至工作人员的移动终端。

7.根据权利要求1所述的一种利用平行光批量检测物体尺寸的方法，其特征在于，所述若两者差值在预设范围内，则判定所述待检测物体尺寸为合格，包括：

若所述差值不在所述预设范围内，则初步判定所述待检测物体尺寸为不合格；

控制所述平行光从多角度照射所述待检测物体；

获取所述平行光从多角度照射所述待检测物体上产生的多个阴影面积信息；

计算所述多个阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积的差值；

若多个差值均不在预设范围内，则判定所述待检测物体尺寸为不合格；

若存在一个或多个差值在预设范围内，发出提示信息至所述工作人员的移动终端。