[发明专利]绝缘子缺陷检测模型构建及绝缘子缺陷检测方法、装置在审

专利信息
申请号: 202211202473.0 申请日: 2022-09-29
公开(公告)号: CN115471487A 公开(公告)日: 2022-12-13
发明(设计)人: 刘方涛;刘月娥;刘建国;李峥嵘 申请(专利权)人: 北京星闪世图科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06V10/764;G06V10/26;G06V10/82;G06V10/774;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 王娜
地址: 100085 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 绝缘子 缺陷 检测 模型 构建 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种绝缘子缺陷检测模型构建方法,其特征在于,包括:

获取待检测绝缘子检测数据集,所述待检测绝缘子检测数据集包含多种类型绝缘子的图像,其中,每一种类型的所述绝缘子的图像包含正常绝缘子图像和异常绝缘子图像;

利用所述待检测绝缘子检测数据集对第一预设网络模型进行训练直至满足第一预设训练条件,得到绝缘子识别模型;

获取由多个具有缺陷的绝缘子图像组成的绝缘子缺陷数据集;

利用所述绝缘子缺陷数据集对第二预设网络模型进行训练直至满足第二预设训练条件,得到绝缘子分割模型,所述绝缘子分割模型用于对绝缘子缺陷进行定位检测;

将所述绝缘子识别模型与所述绝缘子分割模型进行融合,得到绝缘子缺陷检测模型。

2.根据权利要求1所述的绝缘子缺陷检测模型构建方法,其特征在于,所述将所述绝缘子识别模型与所述绝缘子分割模型进行融合,得到绝缘子缺陷检测模型步骤之后,所述方法还包括:

当训练出的绝缘子缺陷检测模型包括多个,计算每一个绝缘子缺陷检测模型对应的预设评价指标;

将预设评价指标满足要求的绝缘子缺陷检测模型作为可使用的绝缘子缺陷检测模型。

3.根据权利要求2所述的绝缘子缺陷检测模型构建方法,其特征在于,所述计算每一个绝缘子缺陷检测模型对应的预设评价指标,所述方法包括:

获取待检测绝缘子检测数据集作为测试数据集;

将所述测试数据集输入到所述绝缘子缺陷检测模型中得到绝缘子缺陷的预测坐标框;

计算所述预测坐标框与真实坐标框的交并比;

统计所述交并比落入预设范围的数量,得到统计结果;

基于所述统计结果,计算每一个绝缘子缺陷检测模型对应的预设评价指标。

4.根据权利要求1所述的绝缘子缺陷检测模型构建方法,其特征在于,所述利用所述待检测绝缘子检测数据集对第一预设网络模型进行训练直至满足第一预设训练条件,得到绝缘子识别模型步骤之前,所述方法还包括:

对待检测绝缘子检测数据集中的图像进行预处理,其中,预处理包括数据增强。

5.根据权利要求1所述的绝缘子缺陷检测模型构建方法,其特征在于,所述多个具有缺陷的绝缘子图像包括对绝缘子识别模型输出识别结果为异常的图像进行裁剪后所得到的图像。

6.一种绝缘子缺陷检测方法,其特征在于,包括:

获取待检测绝缘子巡检图像;

将所述待检测绝缘子巡检图像输入利用如权利要求1-5中任一项所述的绝缘子缺陷检测模型构建方法构建得到的绝缘子缺陷检测模型中;

根据所述绝缘子缺陷检测模型的输出结果确定待检测绝缘子是否存在缺陷。

7.根据权利要求6所述的绝缘子缺陷检测方法,其特征在于,所述根据所述绝缘子缺陷检测模型的输出结果确定待检测绝缘子是否存在缺陷步骤之后,所述方法还包括:

若所述待检测绝缘子存在缺陷,将对应的绝缘子缺陷的预测坐标框显示在原图上并给出警示信息。

8.一种绝缘子缺陷检测模型构建装置,其特征在于,包括:

第一获取模块,用于获取待检测绝缘子检测数据集,所述待检测绝缘子检测数据集包含多种类型绝缘子的图像,其中,每一种类型的所述绝缘子的图像包含正常绝缘子图像和异常绝缘子图像;

第一训练模块,用于利用所述待检测绝缘子检测数据集对第一预设网络模型进行训练直至满足第一预设训练条件,得到绝缘子识别模型;

第二获取模块,用于获取由多个具有缺陷的绝缘子图像组成的绝缘子缺陷数据集;

第二训练模块,用于利用所述绝缘子缺陷数据集对第二预设网络模型进行训练直至满足第二预设训练条件,得到绝缘子分割模型,所述绝缘子分割模型用于对绝缘子缺陷进行定位检测;

融合模块,用于将所述绝缘子识别模型与所述绝缘子分割模型进行融合,得到绝缘子缺陷检测模型。

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