[发明专利]一种存储设备测试方法、装置及电子设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202211208031.7 申请日: 2022-09-30
公开(公告)号: CN115482876A 公开(公告)日: 2022-12-16
发明(设计)人: 胥辂芳 申请(专利权)人: 苏州浪潮智能科技有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56;G06F9/50;G06F12/06
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 崔清杨
地址: 215100 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 存储 设备 测试 方法 装置 电子设备 介质
【权利要求书】:

1.一种存储设备测试方法,其特征在于,包括:

确定目标设备的内存缓存空间,并确定所述目标设备挂载的存储设备的总空间;

基于所述内存缓存空间和所述存储设备的总空间为各CPU内核分配对应的内存空间和存储设备空间,并为各所述CPU内核创建对应的读写线程;

利用各所述CPU内核对应的读写线程基于对应的内存空间和存储设备空间,采用磁道寻址方式对所述存储设备进行读写操作;

基于所述读写操作的读写结果生成所述存储设备的读写测试结果。

2.根据权利要求1所述存储设备测试方法,其特征在于,所述基于所述内存缓存空间和所述存储设备的总空间为各CPU内核分配对应的内存空间和存储设备空间,包括:

确定CPU内核的数量,基于所述CPU内核的数量将所述内存缓存空间和所述存储设备的总空间平均分配至各所述CPU内核。

3.根据权利要求1所述存储设备测试方法,其特征在于,还包括:

获取所述目标设备的配置信息;其中,所述配置信息包括内存和CPU的基本信息、所述存储设备的基本信息,所述存储设备的基本信息包括所述存储设备的物理柱面数、物理磁头数、物理每柱扇区数、扇区总数、每扇区字节数中任一项或任几项的组合;

对比所述配置信息与订单中的标准配置信息,得到配置信息测试结果。

4.根据权利要求1所述存储设备测试方法,其特征在于,还包括:

创建监控线程,利用所述监控线程实时获取所述存储设备的性能参数,基于所述性能参数生成所述存储设备的性能测试结果;其中,所述性能参数包括寻道时间、内部传输速率和外部传输速率中任一项或任几项的组合。

5.根据权利要求1所述存储设备测试方法,其特征在于,所述为各所述CPU内核创建对应的读写线程之后,还包括:

初始化各所述读写线程的读写进度状态和共用资源锁;

相应的,在利用各所述CPU内核对应的读写线程基于对应的内存空间和存储设备空间,采用磁道寻址方式对所述存储设备进行读写操作的过程中,更新各读写线程对应的读写进度状态。

6.根据权利要求1所述存储设备测试方法,其特征在于,所述利用各所述CPU内核对应的读写线程基于对应的内存空间和存储设备空间,采用磁道寻址方式对所述存储设备进行读写操作,包括:

利用各所述CPU内核对应的读写线程将所述存储设备中目标磁道中的数据读取至各所述CPU内核对应的内存空间中,或将各所述CPU内核对应的内存空间中的数据写入所述存储设备的目标磁道中。

7.根据权利要求1至6中任一项所述存储设备测试方法,其特征在于,所述利用各所述CPU内核对应的读写线程基于对应的内存空间和存储设备空间,采用磁道寻址方式对所述存储设备进行读写操作之前,还包括:

确定所述存储设备的每扇区字节数;

基于所述每扇区字节数和各所述CPU内核对应的内存空间确定各所述CPU内核对应的读写线程每次读写操作的数据大小;

其中,各所述CPU内核对应的读写线程每次读写操作的数据大小为所述每扇区字节数的预设倍数,所述预设倍数与各所述CPU内核对应的内存空间呈正相关。

8.一种存储设备测试装置,其特征在于,包括:

第一确定模块,用于确定目标设备的内存缓存空间,并确定所述目标设备挂载的存储设备的总空间;

分配模块,用于基于所述内存缓存空间和所述存储设备的总空间为各CPU内核分配对应的内存空间和存储设备空间,并为各所述CPU内核创建对应的读写线程;

读写模块,用于利用各所述CPU内核对应的读写线程基于对应的内存空间和存储设备空间,采用磁道寻址方式对所述存储设备进行读写操作;

第一生成模块,用于基于所述读写操作的读写结果生成所述存储设备的读写测试结果。

9.一种电子设备,其特征在于,包括:

存储器,用于存储计算机程序;

处理器,用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述存储设备测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述存储设备测试方法的步骤。

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