[发明专利]计算机系统故障的测试方法、装置、电子设备及可读介质

说明书

本发明实施例提供了一种计算机系统故障的测试方法、装置、电子设备及可读介质。所述方法包括：在计算机系统中写入第一故障数据，以使中央处理器循环触发系统管理中断；随机向至少一个内存储器写入第二故障数据，以使内存储器发生不可纠正错误，中央处理器在循环触发系统管理中断的过程中针对内存储器的不可纠正错误生成内部错误信息；基板管理控制器基于内部错误信息，生成系统事件日志；获取基板管理控制器生成的系统事件日志；对系统事件日志进行解析，生成针对中央处理器的测试结果。实现基于系统事件日志对中央处理器自身异常的情况下对计算机系统中产生的内部错误是否可以正确识别进行测试，可以提高计算机系统整体的稳定性。

技术领域

本发明涉及计算器测试技术领域，特别是涉及一种计算机系统故障的测试方法、一种计算机系统故障的测试装置、一种电子设备以及一种计算机可读介质。

背景技术

在计算机运行的过程中，计算机如果发生故障，中央处理器(Central ProcessingUnit，CPU)可以产生内部错误(internal error，IERR)。内部错误是中央处理器报告的灾难性错误，但通常由中央处理器以外的设备(例如，内存、PCIe)造成的。它表明中央处理器在系统中检测到错误或从系统组件接收到错误指令的迹象，中央处理器内部错误很少由中央处理器故障引起，一般由其他故障比如内存不可纠正错误(uncorrect error，UCE)引起，产生内部错误后会由基板管理控制器(Baseboard Management Controller，BMC)进行中央处理器寄存器的收集，然后进行寄存器的解析，进而明确具体故障件，同时上报系统事件日志(System Event Log，SEL)。

为了确保计算机运行稳定，可以主动地触发中央处理器产生内部错误，并解析中央处理器是否生成了正确的系统事件日志，进而判断中央处理器的寄存器是否完整记录了计算机系统内部产生的错误。但是，传统的测试方法只考虑了中央处理器是否可以针对中央处理器以外的设备产生的错误进行正确记录，而并未考虑中央处理器自身的故障是否可能对中央处理器处理内部错误产生不良影响。

发明内容

本发明实施例是提供一种计算机系统故障的测试方法、一种计算机系统故障的测试装置、一种电子设备以及一种计算机可读介质，以测试在中央处理器自身的故障的情况下对计算机系统中产生的内部错误是否可以进行准确识别。

本发明实施例公开了一种计算机系统故障的测试方法，其特征在于，其应用于计算机系统，所述计算机系统中部署有基板管理控制器、中央处理器、以及至少一个内存储器，所述方法包括：

在计算机系统中写入第一故障数据，以使所述中央处理器循环触发系统管理中断；

随机向至少一个所述内存储器写入第二故障数据，以使所述内存储器发生不可纠正错误，所述中央处理器在循环触发系统管理中断的过程中针对所述内存储器的不可纠正错误生成内部错误信息；所述基板管理控制器基于所述内部错误信息，生成系统事件日志；

获取所述基板管理控制器生成的所述系统事件日志；

对所述系统事件日志进行解析，生成针对所述中央处理器的测试结果。

可选地，所述对所述系统事件日志进行解析，生成针对所述中央处理器的测试结果的步骤，包括：

提取所述系统事件日志中记载的发生故障的内存储器位置；

确定所述内存储器位置是否与所述第二故障数据的写入位置匹配；

若所述内存储器位置与所述第二故障数据的写入位置匹配，确定所述中央处理器测试正常；

若所述内存储器位置与所述第二故障数据的写入位置不匹配，确定所述中央处理器测试异常。

可选地，所述在计算机系统中写入第一故障数据的步骤，包括：