[发明专利]提高铝电解电容器外场寿命预测精度的方法和装置在审

专利信息
申请号: 202211219959.5 申请日: 2022-10-08
公开(公告)号: CN115291028A 公开(公告)日: 2022-11-04
发明(设计)人: 刘树强;余思达;李潮;韩立帅 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G06F17/12;G06F17/18
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 左帮胜
地址: 511300 广东省*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 提高 铝电解电容器 外场 寿命 预测 精度 方法 装置
【说明书】:

本申请涉及一种提高铝电解电容器外场寿命预测精度的方法和装置,获取基准元器件的第一试验温度、第一试验寿命、第一工作寿命和第一试验寿命,确定试验加速倍数;根据第二工况条件中的工作温度和试验加速倍数,确定待预测元器件的第二试验温度;根据第一影响权重值、第二影响权重值、第一工况条件、第二工况条件,确定工况差异加速倍数,进而确定待预测元器件在第二工况条件下的第二工作寿命。通过获取影响电子元器件寿命的参数对于寿命影响因子的影响权重,并增加占空比计算工况差异加速倍数,进而对电子元器件工作寿命进行预测,缩短试验时长,降低试验成本,提高不同工况的预测精准度。

技术领域

本申请涉及电子设备可靠性分析技术领域,特别是涉及一种提高铝电解电容器外场寿命预测精度的方法和装置。

背景技术

电子设备是航天装备的重要组成部分,其质量的可靠性和稳定性可能决定航天产品的成败,因此电子设备的寿命预估工作是航天产品可靠性工作中的重点之一。由于电子设备的基本组成单元为元器件,因此其寿命评估工作通常等效为核心元器件的寿命评估。对于电子元器件在使用过程中的工作寿命,一般通过电子元器件的试验寿命与工作寿命之间的关系,进行预测。

在相关技术中,通过基准工况的试验寿命与工作寿命之间的函数关系,以及待预测工况与基准工况之间的工况差异倍数,确定待预测工况的等效工作寿命。其中,在确定工况差异倍数时,是直接通过电压、纹波电流和温度的实际值与额定值的比值计算工况差异倍数的,在计算过程中,未考虑电压、纹波电流和温度等影响因子对不同工况下电子元器件的工作寿命的影响程度。

发明内容

基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够快速高效地预测电子元器件工作寿命的方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。

第一方面,本申请提供了一种提高铝电解电容器外场寿命预测精度的方法。所述方法包括:

获取基准元器件的第一试验温度以及第一试验温度对应的第一试验寿命;

获取基准元器件在第一工况条件下的第一工作寿命,根据第一工作寿命和第一试验寿命,确定基准元器件的试验加速倍数,第一工况条件是至少基于电压、纹波电流以及占空比三种工作参数所设置的;

获取待预测元器件的第二工况条件,根据第二工况条件中的工作温度和试验加速倍数,确定待预测元器件的第二试验温度,待预测元器件和基准元器件具有相同的特性参数,第二工况条件是至少基于电压、纹波电流以及占空比三种工作参数所设置的;

获取第一工况条件中涉及到的每种工作参数对应的第一影响权重值和第二工况条件中涉及到的每种工作参数对应的第二影响权重值,根据第一影响权重值、第二影响权重值、第一工况条件、第二工况条件、第一试验温度以及第二试验温度,确定工况差异加速倍数,工况差异加速倍数用于指示不同工况对试验加速倍数的影响程度;

根据第一试验寿命、试验加速倍数以及工况差异加速倍数,确定待预测元器件在第二工况条件下的第二工作寿命。

在其中一个实施例中,获取第一工况条件中涉及到的每种工作参数对应的第一影响权重值,包括:

根据至少一个样品元器件的第一历史工作数据,获取多组每种工作参数对应的第一影响权重的历史评估分数,样品元器件是指与待预测元器件型号相同的元器件;

对于任一工作参数,计算多组任一工作参数对应的第一影响权重的历史评估分数的加权平均值;

将每种工作参数对应的第一影响权重的历史评估分数的加权平均值的归一化处理结果,作为每种工作参数对应的第一影响权重值。

在其中一个实施例中,第一工况条件包括N个参数,N≥3;相应地,获取第一工况条件中涉及到的每种工作参数对应的第一影响权重值,包括:

根据样品元器件的第二历史工作数据,获取至少N+1组历史工况条件以及对应的历史工作寿命,样品元器件是指与待预测元器件型号相同的元器件;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)),未经中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211219959.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top