[发明专利]一种二极管老炼试验故障排除方法及二极管老炼试验系统

权利要求书

1.一种二极管老炼试验故障排除方法，其特征在于，包括：

将若干二极管串联构成恒流回路，并将若干所述恒流回路并联构成老炼试验回路；

设定老炼电压；

获取每个二极管的实际电压和每个所述恒流回路的实际电流，根据所述老炼电压、所述实际电压和所述实际电流排除试验故障；所述试验故障包括：安装错误、接触不良、电压错误和二极管损坏中的至少一者。

2.根据权利要求1所述的二极管老炼试验故障排除方法，其特征在于，所述二极管老炼试验故障排除方法还包括：设置第一电流阈值和第一电压阈值；

根据所述老炼电压、实际电压和所述实际电流排除所述试验故障的过程中，若有恒流回路的所述实际电流小于或等于所述第一电流阈值，且在该恒流回路中，从某个二极管开始所述实际电压均小于或等于所述第一电压阈值，则检查所述实际电压小于或等于所述第一电压阈值的第一个二极管是否安装错误。

3.根据权利要求1所述的二极管老炼试验故障排除方法，其特征在于，所述二极管老炼试验故障排除方法还包括：设置第二电压阈值；

根据所述老炼电压、实际电压和所述实际电流排除所述试验故障的过程中，若所述实际电流正常，且在恒流回路中有某个二极管的所述实际电压大于或等于所述第二电压阈值，则检查该二极管是否接触不良。

4.根据权利要求1所述的二极管老炼试验故障排除方法，其特征在于，所述二极管老炼试验故障排除方法还包括：设置第二电流阈值和第三电压阈值；

根据所述老炼电压、实际电压和所述实际电流排除所述试验故障的过程中，若全部所述恒流回路的所述实际电流均小于或等于所述第二电流阈值，且全部二极管的所述实际电压均大于或等于所述第三电压阈值，则检查所述老炼电压是否设置正确。

5.根据权利要求1所述的二极管老炼试验故障排除方法，其特征在于，所述二极管老炼试验故障排除方法还包括：设置第三电流阈值和第四电压阈值；

根据所述老炼电压、实际电压和所述实际电流排除所述试验故障的过程中，若有恒流回路的的所述实际电流小于或等于所述第三电流阈值，且该恒流回路中有某个二极管的所述实际电压大于或等于所述第四电压阈值，则检查该二极管是否接触不良。

6.根据权利要求2~5任一项所述的二极管老炼试验故障排除方法，其特征在于，所述二极管老炼试验故障排除方法还包括：

设置验证电路，所述验证电路串联有标准二极管和控制开关，所述标准二极管与进行老炼试验的二极管型号相同；

检测到所述试验故障时，在发生所述试验故障的二极管处并联所述验证电路；

连通所述控制开关后，对所述试验故障进行排查；消除所述所述试验故障后，断开所述控制开关，并将所述验证电路拆下。

7.一种用于实现如权利要求1~6任一项所述的二极管老炼试验故障排除方法的二极管老炼试验系统，其特征在于，包括：终端控制计算机、MCU电路、恒流控制回路、老炼试验回路和电流采样电路；

所述老炼试验回路与所述恒流控制回路电性连接，所述恒流控制回路与所述电流采样电路电性连接，所述恒流控制回路和所述电流采样电路均与所述MCU电路电性连接，所述MCU电路与所述终端控制计算机电性连接；

所述老炼试验回路包括若干并联的恒流回路，每个所述恒流回路中设置有若干串联的用于安装二极管的夹具，且每个所述恒流回路还设置有用于检测每个二极管的实际电压的电压检测模块。

8.根据权利要求7所述的二极管老炼试验系统，其特征在于，在所述恒流回路中，每个所述夹具的两端均设置有第一电性连接部；

所述二极管老炼试验系统还包括：验证电路；

所述验证电路串联有标准二极管和控制开关，其中，所述标准二极管与进行老炼试验的二极管型号相同；所述验证电路的两端具有用于与所述第一电性连接部连接的第二电性连接部。