[发明专利]射频场特性测试装置及方法

说明书

本发明提供了一种射频场特性测试装置及方法，直线滑杆、磁栅尺和电机均固定在扫描底盘上；直线滑杆和磁栅尺并排放置；直线滑杆上滑动有滑块，接收天线通过转接件设置在滑块上；磁栅尺的磁头设置在滑块上，磁栅尺测量接收天线的位移；电机驱动接收天线运动；圆筒的一端设置在扫描底盘背离直线滑杆的底面，且圆筒具有沿垂直于扫描底盘的法向方向伸缩功能；圆筒的另一端设置在连接法兰上；连接法兰固定在转台内框上。本发明区别于扫描支架的标准增益喇叭，本发明采用小型圆极化天线，且充分利用转台自身的滚转轴结构，直线导杆加转台旋转形成平面扫描，结构相对简单紧凑，适用于半实物仿真系统静区内电磁场特性的测量。

技术领域

本发明涉及射频场特性测试的技术领域，具体地，涉及一种射频场特性测试装置及方法。

背景技术

静区内场幅度特性和相位特性通常采用扫描法测量。测试系统由矢量网络分析仪、信号源、幅相测量设备、天线、扫描架、定标球和电缆等设备组成。天线为线极化天线，一般选择标准增益喇叭天线。测量在水平极化和垂直极化条件下，将扫描架上天线分别沿水平线和垂直线移动，记录接收到的信号，直接根据最大值和最小值的差得到幅度变化和相位变化。

扫描架一般为二维平移结构，为固定在地面上的测试系统，无法在半实物仿真系统中应用；扫描架可能存在的倾斜误差等导致测量数据不是在一个静区平面内；没有考虑近场球面波本身引起的相位分布误差。

另有半实物仿真系统射频暗室常用的大口径标准增益喇叭测量系统，由于天线本身口径大，适用于静区中心点的特性测试，不适用于静区平面内各点的特性测试，无法精确得到静区内各点的幅值和相位分布。

公开号为CN103780314A的中国发明专利文献公开了一种射频特性测试设备，其用于测试多个通信电路板的射频特性，其包括：多个夹持装置用于固定多个通信电路板；一网络分析仪、一交换箱及一结果显示装置。交换箱电性连接在夹持装置与网络分析仪之间，用于将多个通信电路板分别依序切换连接至网络分析仪。网络分析仪用于依序对切换后夹持装置内的通信电路板进行检测。结果显示装置与网络分析仪电性连接，结果显示装置用于同时显示多个通信电路板的检测结果。

针对上述中的相关技术，发明人认为半实物仿真系统的射频静区场幅值和相位分布的测量精度较低。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明的目的是提供一种射频场特性测试装置及方法。

根据本发明提供的一种射频场特性测试装置，包括与转台连接结构、接收天线、转接件、直线滑杆、磁栅尺和电机；

所述与转台连接结构包括扫描底盘、圆筒和连接法兰；

所述直线滑杆、磁栅尺和电机均固定在扫描底盘上；

所述直线滑杆和磁栅尺并排放置；

所述直线滑杆上滑动有滑块，所述接收天线通过转接件设置在滑块上；

所述磁栅尺的磁头设置在滑块上，所述磁栅尺测量接收天线的位移；

所述电机驱动接收天线运动；

所述圆筒的一端设置在扫描底盘背离直线滑杆的底面，且圆筒具有沿垂直于扫描底盘的法向方向伸缩功能；

所述圆筒的另一端设置在连接法兰上；

所述连接法兰固定在转台内框上。

优选的，所述接收天线包括圆极化天线，所述圆极化天线接收口面直径小于20mm，天线增益为2dB；

所述磁栅尺的读数分辨率5μm，精度为±50μm/m。

优选的，该测试装置还包括千分表；

所述千分表固定在转台内框外；