[发明专利]基于Geant4及TCAD软件的碳化硅快中子探测器模拟方法在审
申请号: | 202211247576.9 | 申请日: | 2022-10-12 |
公开(公告)号: | CN115563784A | 公开(公告)日: | 2023-01-03 |
发明(设计)人: | 刘书焕;熊艳丽;马勇;王炫;黄有骏;孟凡钧;宋辞;韩宁;李浩迪 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F30/10 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 何会侠 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 geant4 tcad 软件 碳化硅 快中子 探测器 模拟 方法 | ||
1.基于Geant4及TCAD软件的碳化硅快中子探测器模拟方法,其特征在于:
将Geant4软件和TCAD软件进行耦合,获取反冲质子能量角度信息及质子在碳化硅快中子探测器中产生的脉冲,实现了对碳化硅快中子探测器的系统模拟,为后续电路级仿真提供模拟基础;
该方法包含以下步骤:
步骤1:在Geant4中构建碳化硅快中子探测器模型,模拟不同能量单能中子入射不同厚度的转换层,根据不同能量的单能中子转换效率确定转换层最优厚度;
步骤2:转换层最优厚度的条件下,利用Geant4模拟混合能中子源入射,获取入射碳化硅快中子探测器的反冲质子能量及角度信息;
步骤3:利用matlab软件对反冲质子能量及角度信息进行整理,绘制反冲质子能量角度分布曲线,并进行质子能量及角度抽样;
步骤4:根据步骤3抽样所得到的质子能量,利用SRIM软件获取不同能量的质子在碳化硅材料中的射程及传能线密度;
步骤5:在TCAD中构建不同的碳化硅快中子探测器模型,对不同的碳化硅快中子探测器模型进行电学性能模拟比较,选取最优的碳化硅快中子探测器模型,完成对碳化硅快中子探测器的优化;
步骤6:选取步骤5中优化的模型,根据步骤3中抽样所得到的质子能量及角度,以及步骤4中所得射程和传能线密度,在TCAD软件中模拟获取质子入射探测器产生的电流脉冲。
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