[发明专利]模数转换器ADC校准方法、装置、设备和存储介质

说明书

本发明实施例提供一种模数转换器ADC校准方法、装置、设备和存储介质，该方法包括：获取第一工作温度下ADC的多个样本信号集；样本信号集包括ADC的输入信号和输入信号对应的ADC的输出信号；根据第一目标模型和多个样本信号集中的输入信号和输出信号，确定第一工作温度下ADC对应的输出输入曲线；第一目标模型是基于三阶方程确定的；根据第一工作温度下ADC对应的输出输入曲线及在第一工作温度下测量得到的ADC的输出电压，对ADC进行校准。本发明实施例的方法实现了对高次谐波带来的误差的校准和消除，提高了ADC的校准效果。

技术领域

本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种模数转换器ADC校准方法、装置、设备和存储介质。

背景技术

模数转换器(Analog to Digital Converter，ADC)是将被采样的连续模拟信号转换成数字系统可以处理的数字信号的一种转换器。一个数字系统要能够在不同的外部工作环境(如电压、电流、温度等)中调整自身的工作状态达到最佳性能或进行自我保护，因此高精度的ADC采样系统是必要的。理想的ADC传输曲线是线性的，然而ADC作为一种数模混合电路，其模拟部分的性能会受到工艺、温度的影响，输出信号中会含有噪声与谐波，并且在不同的温度有不同的表现，因此要对ADC的输出信号进行校准。

相关技术中，通过两个已知的参考点校准ADC输出的增益误差和失调误差，这种方法采样点太少，会有较多的离散点出现在直线之外，曲线拟合精度差，导致ADC的输出信号的校准结果较差。

发明内容

针对现有技术中的问题，本发明实施例提供一种模数转换器ADC校准方法、装置、设备和存储介质。

具体地，本发明实施例提供了以下技术方案：

第一方面，本发明实施例提供了一种模数转换器ADC校准方法，包括：

获取第一工作温度下ADC的多个样本信号集；样本信号集包括ADC的输入信号和输入信号对应的ADC的输出信号；

根据第一目标模型和多个样本信号集中的输入信号和输出信号，确定第一工作温度下ADC对应的输出输入曲线；第一目标模型是基于三阶方程确定的；

根据第一工作温度下ADC对应的输出输入曲线及在第一工作温度下测量得到的ADC的输出电压，对ADC进行校准。

进一步地，所述三阶方程可以表示为:

x＝a₀+a₁y+a₂y²+a₃y³；所述x表示ADC的输入信号；所述y表示ADC的输出信号；所述a₀、a₁、a₂和a₃表示三阶方程的系数。

进一步地，所述据第一目标模型和多个所述样本信号集中的输入信号和输出信号，确定所述第一工作温度下ADC对应的输出输入曲线，包括：

根据第一目标模型对所述样本信号集中的输入信号和输出信号进行拟合，得到第一工作温度下ADC对应的输出输入曲线。

进一步地，根据第一工作温度下ADC对应的输出输入曲线及在第一工作温度下测量的ADC的输出电压，对ADC进行校准，包括：

向ADC输入第一信号，确定第一工作温度下测量得到的ADC的输出电压；

将第一工作温度下测量得到的ADC的输出电压输入第一工作温度下ADC对应的输出输入曲线，得到ADC校准信号；

根据ADC校准信号和第一信号，对ADC进行校准。

进一步地，ADC校准方法还包括：

获取第二工作温度下ADC对应的输出输入曲线；