[发明专利]一种地层密度测量方法、存储介质和设备

权利要求书

1.一种地层密度测量方法，其特征在于，包括：

建立用于表征地层密度和非弹性伽马计数比、热中子计数比之间关系的地层密度的中子测井模型；

将待测井的目标地层所述非弹性散射伽马射线计数比、所述热中子计数比和多个刻度系数代入地层密度的中子测井模型中，获得所述待测井的目标地层的地层密度。

2.根据权利要求1所述的一种地层密度测量方法，其特征在于，所述地层密度的中子测井模型为：

ρ＝A*ln(f(R_t)+BR_in)+g(R_t)+C，

其中，

f(R_t)＝DR_t²+ER_t+F，

g(R_t)＝ln(GR_t²+HR_t+I)，

ρ表示地层密度，R_t表示热中子探测器计数比，R_in表示非弹性散射伽马射线计数比，A、B、C、D、E、F、G、H和I为刻度系数。

3.根据权利要求2所述的一种地层密度测量方法，其特征在于，A、B、C、D、E、F、G、H和I作为刻度系数的获取过程，包括：

利用标准刻度井的刻度实验以及相应的蒙特卡洛模型的数值计算，得到非弹伽马计数比、热中子计数比的实验测量值与模拟值之间的修正关系；

将其他密度的地层代入所述蒙特卡洛模型，得到其他地层密度的刻度模拟井，通过对所述刻度模拟井的数值模拟得到非弹伽马计数比、热中子计数比的模拟值；利用实验测量值与模拟值之间的修正关系，对所述刻度模拟井的模拟值进行修正，得到模拟修正后的非弹性散射伽马射线计数比和热中子计数比；

将多个所述标准刻度井的非弹性散射伽马射线计数比、热中子计数比以及相应的地层密度，多个所述刻度模拟井模拟修正后的非弹性散射伽马射线计数比、热中子计数比以及相应的地层密度代入地层密度的中子测井模型，求解获得所述刻度系数A、B、C、D、E、F、G、H和I。

4.根据权利要求3所述的一种地层密度测量方法，其特征在于，通过对所述刻度模拟井的数值模拟得到非弹伽马计数比、热中子计数比的模拟值；并利用实验测量值与模拟值之间的修正关系，对所述刻度模拟井的模拟值进行修正，得到模拟修正后的非弹性散射伽马射线计数比和热中子探测器计数比，具体包括：

构造标准刻度井中各种材料下地层密度的蒙特卡洛输运模型，通过数值模拟得到非弹伽马计数比、热中子计数比的模拟值；

利用标准刻度井中的非弹伽马计数比、热中子计数比的实验测量值，得到不同地层密度下实验测量值与模拟值之间的修正关系；

选取多种岩性的地层模型，按照不同的体积百分比与纯水混合，构造出不同岩性和不同地层密度的岩层，代入所述蒙特卡洛模型，得到刻度模拟井；通过数值模拟，得到刻度模拟井的非弹伽马计数比、热中子计数比的模拟值；

利用所述实验测量值与模拟值之间的修正关系，对所述刻度模拟井的非弹伽马计数比、热中子计数比的模拟值进行修正，得到修正后的所述刻度模拟井的非弹伽马计数比、热中子计数比。

5.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有指令，当计算机读取所述指令时，使所述计算机执行如权利要求1至4中任一项所述的一种地层密度测量方法。

6.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和权利要求5所述的存储介质，所述处理器执行所述存储介质中的指令。