[发明专利]用于PCB板拼接的特征点检测优化方法

权利要求书

1.用于PCB板拼接的特征点检测优化方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

俯视采集PCB板的表面图像；利用SIFT算法对表面图像构建尺度空间，对同一频程的相邻平滑系数对应的表面图像进行差分得到高斯差分图像；

根据高斯差分图像中同一倍频程和不同倍频程中表面图像之间的差异，计算高斯差分图像之间的差异系数，获取高斯差分图像中灰度值为1的像素点，结合所述差异系数得到边缘的优化必要性；

计算高斯差分图像的方差，基于所述优化必要性和所述方差对同一倍频程的表面图像进行边缘优化，得到边缘优化图像，将不同倍频程的边缘优化图像再进行图像叠加进行边缘优化，得到最终的优化图像；

对所述优化图像进行尺度空间的极值检测、特征点定位、特征方向赋值以及特征点描述，完成图像匹配。

2.根据权利要求1所述的用于PCB板拼接的特征点检测优化方法，其特征在于，所述差异系数的获取方法为：

获取同一倍频程图像的所有差分图像的积分图像，通过统计同一倍频程种第一层与其他层图像之间的差异大小，以及不同倍频程的积分图像之间的差异获取所述差异系数。

3.根据权利要求1所述的用于PCB板拼接的特征点检测优化方法，其特征在于，所述优化必要性的获取方法为：

以每个倍频程下不同层图像中差异系数在所有像素点的统计值中的占比作为所述优化必要性；所述统计值为高斯差分图像中灰度值为1的像素点数量。

4.根据权利要求1所述的用于PCB板拼接的特征点检测优化方法，其特征在于，所述计算高斯差分图像的方差，包括：

计算高斯差分金字塔中所有高斯差分图像在每个位置处的灰度均值，计算高斯差分图像中每个位置处的灰度值与对应的灰度均值的灰度差异，所有位置处的灰度差异平方的均值即为所述高斯差分图像的方差。