[发明专利]一种提高P1dB测试结果的精准度的方法

说明书

本发明公开了射频测试技术领域的一种提高P1dB测试结果的精准度的方法，包括构建硬件测试环境；基于构建的硬件测试环境，采用设定的测试方法进行测试，获得P1dB测试值；对P1dB测试值进行判断，直至P1dB测试值满足设定条件，输出功率即为P1dB的值。本发明通过优化测试环境和测试程序，达到了减小测试有增益比较平缓区段的芯片的P1dB的误差的目的，从而提高了测试结果的精准度、可靠性以及一致性。

技术领域

本发明属于射频测试技术领域，具体涉及一种提高P1dB测试结果的精准度的方法。

背景技术

半导体器件是现代电子工业中十分耀眼的明星，近几十年得到了长足的发展，凭借诸多优势，已广泛应用于控制、转换、放大、运算等功能电路，与此同时也伴随着非线性这一缺点。衡量非线性特性的参数较多，其中1dB增益压缩点通常是必测的项目。目前测试P1dB可以通过等间距递增法、二分法或者不等间距递增法的方式进行功率扫描，确定被测试功放芯片的线性和非线性动态范围。

现有技术存在的缺点是精确度不够，首先如果输出功率用频谱仪读值，由于频谱自身可允许的误差范围就有±2dB，这个仪器自身的误差会导致测试结果的误差；如果使用功率计读输出功率值，由于一般功率计探头的动态范围上限是20dBm，所以这也会一定程度的影响测试结果。其次使用二分法测试增益较为平缓的芯片，可能会导致同一芯片反复测P1dB在增益比较平缓的频点处有零点几dB的波动，削弱了测试的精准度。

发明内容

为解决现有技术中的不足，本发明提供一种提高P1dB测试结果的精准度的方法，能够通过优化测试环境和测试程序有效提高P1dB测试结果的精准度。

为达到上述目的，本发明所采用的技术方案是：一种提高P1dB测试结果的精准度的方法，包括：构建硬件测试环境；基于构建的硬件测试环境，采用设定的测试方法进行测试，获得P1dB测试值；对P1dB测试值进行判断，直至P1dB测试值满足设定条件，输出功率即为P1dB的值。

进一步地，所述硬件测试环境，包括：连接在被测芯片的输入端的信号源、连接在被测芯片的输出端的衰减器以及与衰减器连接的功率计；所述信号源，用于向被测芯片提供测试信号；所述衰减器，用于将被测芯片的输出功率衰减至设定区间；所述功率计，用于读取经所述衰减器衰减后的被测芯片的输出功率。

进一步地，所述测试方法为二分法。

进一步地，所述对P1dB测试值进行判断，直至P1dB测试值满足设定条件，包括：当P1dB测试值满足：1-Δ≤G1-Gn≤1+Δ，Δ表示设定的允许误差量，n=2，3，4···，其中，G1表示当芯片工作在线性区，信号源的输出功率为Pin0时，测出的芯片的增益， Gn表示当芯片工作在线性区，信号源的输出功率为设定区间的中间值时，测出的芯片的增益，即P1dB测试值；

同时，P1dB测试值满足：G1-Gn-1≥0，n=2，3，4···时，输出功率即为P1dB的值。

进一步地，当P1dB测试值不满足：1-Δ≤G1-Gn≤1+Δ，n=2，3，4···时：

若满足G1-Gn≥1+Δ，则设置信号源的输出功率为Pin0和Pin2的中间值Pin n，n=3，4···，此时，测出的芯片的增益Gn，n=3，4···；

若不满足G1-Gn≥1+Δ，则设置信号源的输出功率为Pin2和Pin1的中间值Pin n，n=3，4···，此时，测出的芯片的增益Gn，n=3，4···。

进一步地，当P1dB测试值不满足G1-Gn-1≥0，n=2，3，4···时，将芯片的输入功率增加0.1dB，此时，测出的芯片的增益Gn，n=3，4···。

与现有技术相比，本发明所达到的有益效果：本发明通过优化测试环境和测试程序，达到了减小测试有增益比较平缓区段的芯片的P1dB的误差的目的，从而提高了测试结果的精准度、可靠性以及一致性。

附图说明