[发明专利]一种抗辐照低中子吸收截面高熵合金、其制备方法及用途有效
申请号: | 202211276287.1 | 申请日: | 2022-10-19 |
公开(公告)号: | CN115652172B | 公开(公告)日: | 2023-09-12 |
发明(设计)人: | 卢一平;张欢枝;李廷举;王同敏;曹志强 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学 |
主分类号: | C22C30/02 | 分类号: | C22C30/02;C22C1/03;C22B9/20;G21C3/07 |
代理公司: | 大连大工智讯专利代理事务所(特殊普通合伙) 21244 | 代理人: | 崔雪 |
地址: | 116024 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 辐照 中子 吸收 截面 合金 制备 方法 用途 | ||
1.一种抗辐照低中子吸收截面高熵合金,其特征在于,通式为AlaCubFecModNbeNifTigVhYiZrj,其中0≤a≤40%,15%≤b30%,0≤c≤40%,16%≤d≤30%,0≤e10%,0≤f≤40%,35%g≤55%,1%≤h≤20%,1%≤i≤5%,0≤j5%,且a+b+c+d+e+f+g+h+i+j=100%,a、b、c、d、e、f、g、h、i和j为摩尔百分比;
所述通式中:g+j≥40%,且a、c、e、f、j不同时为0。
2.根据权利要求1所述抗辐照低中子吸收截面高熵合金,其特征在于,所述通式中:5%≤a≤20%,15%≤b25%,5%≤c≤20%,16%≤d≤20%,3%≤e10%,2%≤f≤20%,40%g≤50%,1%≤h≤10%,1%≤i≤4%,0≤j4%。
3.一种权利要求1-2任意一项所述抗辐照低中子吸收截面高熵合金的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
按照通式称取Ti、Zr、Nb、V、Mo单质原料放入坩埚1,将Al、Fe、Cu、Ni、Y单质原料放入坩埚2,两个坩埚中的原料分别熔炼好后,将得到的两个铸锭放入同一个坩埚中,继续熔炼为一个铸锭,获得抗辐照低中子吸收截面高熵合金。
4.根据权利要求3所述抗辐照低中子吸收截面高熵合金的制备方法,其特征在于,所选原料Ti、Zr、Nb、V、Mo、Al、Fe、Cu、Ni、Y的纯度均大于99.95 wt. %。
5.根据权利要求3所述抗辐照低中子吸收截面高熵合金的制备方法,其特征在于,合金熔炼前,抽真空,至真空电弧熔炼炉炉膛内气压为3.5×10-3至5.5×10-3pa,之后反充高纯氩气至炉膛内气压为-0.06~-0.03 MPa。
6.根据权利要求3所述抗辐照低中子吸收截面高熵合金的制备方法,其特征在于,熔炼时电流控制在350至450 A,单次合金熔炼时间为80~120 s,之后反转铸锭继续熔炼,反转次数为6~8次;将两坩埚中得到的铸锭熔炼为一个铸锭时,熔炼次数为3~5次。
7.一种权利要求1-2任意一项所述抗辐照低中子吸收截面高熵合金在核工业领域的用途。
8.根据权利要求7所述用途,其特征在于,所述抗辐照低中子吸收截面高熵合金能用于ATF包壳材料。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大连理工大学,未经大连理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211276287.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。