[发明专利]一种双界面智能卡通断测试的实现系统及方法

说明书

本发明公开了一种双界面智能卡通断测试的实现系统及方法，包括：轨道件、设置于所述轨道件一端面上的接触端件、设置于轨道件另一端面上的非接触端件、固定于所述轨道件上的自动识别件及终端控制件；接触端件与非接触端件均用于检测6pin或8pin板卡；轨道件用于将双界面条带按照固定的方向被运输至固定的位置，进行端口通断测试；自动识别件用于将失效的条带做标识；终端控制件用于发指令给接触端件、非接触端件、轨道件以及自动识别件。根据本发明，扩展了IC模块测试机的双界面单机测试产能，使单台设备的双界面IC模块测试产能提高70％以上，突破产能瓶颈。

技术领域

本发明涉及封装测试的技术领域，特别涉及一种双界面智能卡通断测试的实现系统及方法。

背景技术

双界面IC卡是一种同时支持接触式与非接触式两种通讯方式的IC卡，接触接口和非接触接口共用同一个IC芯片的资源。并可在接触模式和非接触模式间灵活切换。既能满足高性能的复杂应用及安全算法，又保证低功耗的非接触式交互的要求。这两年随着双界面卡的技术成熟、且使用灵活、高效、安全的优点越来越获得客户的青睐，在产品份额中已占据半壁江山，造成了客户对双界面IC模块的需求量越来越大，但受制于测试头数的限制，导致单台设备的双界面IC模块测试的UPH较低，仅在15K左右，而接触式单界面IC模块的测试UPH可以达到40K，导致产能满足不了客户的需求，无法按期完成客户的订单。

发明内容

针对现有技术中存在的不足之处，本发明的目的是提供一种双界面智能卡通断测试的实现系统及方法，扩展了IC模块测试机的双界面单机测试产能，使单台设备的双界面IC模块测试产能提高70％以上，突破产能瓶颈。为了实现根据本发明的上述目的和其他优点，提供了一种双界面智能卡通断测试的实现方法，包括：

轨道件、设置于所述轨道件一端面上的接触端件、设置于轨道件另一端面上的非接触端件、固定于所述轨道件上的自动识别件及终端控制件；

接触端件与非接触端件均用于检测6pin或8pin板卡；

轨道件用于将双界面条带按照固定的方向被运输至固定的位置，进行端口通断测试；

自动识别件用于将失效的条带做标识；

终端控制件用于发指令给接触端件、非接触端件、轨道件以及自动识别件。

优选的，接触端件一侧面设置有24个第一测试针卡，所述第一测试卡针包括Micropross原装的6PIN双界面用非接端针卡和8PIN双界面用非接端针卡，Micropross原装的6PIN双界面用非接端针卡和8PIN双界面用非接端针卡测试针卡用于与后台终端保持实时通讯。

优选的，非接触端件一侧面设置有24个第二测试针卡卡，所述第二测试针包括Micropross原装的6PIN双界面用非接端针卡和8PIN双界面用非接端针卡，第二测试针卡用于与后台终端保持实时通讯。

优选的，第一测试针卡与第二测试针卡的结构相同，且均包括测试针卡本体、24根同轴电缆线以及48根测试探针，其中同轴电缆线位于测试针卡本体竖直方向的上部，测试探针位于测试针卡本体竖直方向的下部，通过每个测试头对应该一根同轴电缆线与2根测试探针，且6PIN和8PIN的双界面用非接端针卡在测试探针的竖直方向上的间距不同。

优选的，接触端件与非接触端件之间的距离为12的倍数。

一种双界面智能卡通断测试的实现方法，包括以下步骤：

S1、通过轨道件将条带按照固定的方向被运输至固定的位置去，且保持接触端件与非接触端件的之间的距离；

S2、通过接触端件与非接触端件分别对条带进行通断测试，其中接触端件的第一测试针卡往条带方向移动，第一测试针卡的测试探针与条带上的模块接触端的PAD一一对应接触，测试其接触端的通断及功能；