[发明专利]一种质谱检测的双激光结构及其双激光检测方法

权利要求书

1.一种质谱检测的双激光结构，其特征在于，其结构包括：离子源外腔(1)、离子通道(2)、斜向激光入射机构(3)、腔体盖板(4)、直向激光入射机构(5)、样品置物台(6)、第一激光聚焦透镜组(7)、第一入射通道(8)，离子通道(2)配入到离子源外腔(1)内，斜向激光入射机构(3)安装在离子源外腔(1)的斜角上，样品置物台(6)上端连接有离子源外腔(1)、下端连接有腔体盖板(4)，直向激光入射机构(5)设置在离子源外腔(1)一侧并且位于腔体盖板(4)上，第一入射通道(8)装设在离子源外腔(1)的内，第一入射通道(8)内设置有用于斜向激光入射机构(3)聚焦的第一激光聚焦透镜组(7)。

2.根据权利要求1所述的一种质谱检测的双激光结构，其特征在于：第一激光聚焦透镜组(7)指向样品置物台(6)。

3.根据权利要求1所述的一种质谱检测的双激光结构，其特征在于：离子通道(2)位于样品置物台(6)上端。

4.根据权利要求1所述的一种质谱检测的双激光结构，其特征在于：直向激光入射机构(5)包括激光入射口(51)、第二激光聚焦透镜组(52)、折射聚焦透镜(53)、第二入射通道(54)、盖片(55)、透镜固定座(56)、透镜压紧盖(57)，激光入射口(51)安装在盖片(55)并且直立在第二激光聚焦透镜组(52)上端，第二激光聚焦透镜组(52)配入到第二入射通道(54)内，折射聚焦透镜(53)倾斜安装在第二入射通道(54)一侧并且位于第二激光聚焦透镜组(52)下方。

5.根据权利要求4所述的一种质谱检测的双激光结构，其特征在于：第二入射通道(54)一侧指向离子通道(2)或者样品置物台(6)。

6.根据权利要求4所述的一种质谱检测的双激光结构，其特征在于：第二入射通道(54)为直角通道，折射聚焦透镜(53)倾斜安装在第二入射通道(54)的直角部。

7.根据权利要求4所述的一种质谱检测的双激光结构，其特征在于：还包括六角柱(58)、螺栓(59)，盖片(55)与透镜压紧盖(57)之间设置有若干个六角柱(58)，用于支撑住盖片(55)，螺栓(59)锁入六角柱(58)，用于将盖片(55)装夹在螺栓(59)与六角柱(58)之间。

8.一种采用权利要求1～7中任意一项所述的一种质谱检测的双激光结构的双激光检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、在样品置物台(6)内的样品靶涂覆待测样品与基质的混合溶液；

S2、调节好斜向激光入射机构(3)与直向激光入射机构(5)的角度，对准所需入射的样品靶上；

S3、激光器启动，斜向激光入射机构(3)和直向激光入射机构(5)分别获得光束；

S4、斜向激光入射机构(3)通过第一激光聚焦透镜组(7)聚焦，将激光射入第一入射通道(8)直至打在样品靶的混合溶液上；

S5、混合溶液的基质吸收激光将电荷转移到待测样品，使待测样品电离成一定分子量的离子；

S6、待测样品被激光击碎主离子得到离子碎片,离子通过向上电场向上运动；

S7、激光器往直向激光入射机构(5)的激光入射口(51)射入激光；

S8、通过第二激光聚焦透镜组(52)聚焦，折射聚焦透镜(53)的折射，将激光射入第二入射通道(54)直至打在样品靶或者离子通道(2)上；

S9、将电离后的分子量电离成更小分子量的离子组，再经离子通道(2)向上运动到达检测器；

S10、检测器检测，最后在质谱仪上呈现电离后的各待测样品离子碎片质谱图像。

9.根据权利要求8所述的一种质谱检测的双激光结构的检测方法，其特征在于：斜向激光入射机构(3)与直向激光入射机构(5)激光光束来自同一激光器所形成的激光分束或者来自不同的激光器所形成的激光光束。

10.根据权利要求9所述的一种质谱检测的双激光结构的检测方法，其特征在于：斜向激光入射机构(3)与直向激光入射机构(5)的光束来自同一激光器通过分光器实现。