[发明专利]基于结构化汉克尔全变分正则化的磁异常检测方法及系统在审

专利信息
申请号: 202211294428.2 申请日: 2022-10-21
公开(公告)号: CN115657140A 公开(公告)日: 2023-01-31
发明(设计)人: 刘欢;吕雨萌;张杏林;王泽华;董浩斌 申请(专利权)人: 中国地质大学(武汉)
主分类号: G01V3/08 分类号: G01V3/08;G06F17/16;G06N3/006
代理公司: 武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238 代理人: 吴晓茜
地址: 430000 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 基于 结构 克尔 全变分 正则 异常 检测 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于结构化汉克尔全变分正则化的磁异常检测方法,其特征在于,包括:

S1:通过磁梯度传感器阵列采集磁异常信号,通过磁异常信号构建原始矩阵,对原始矩阵交替进行行扫描和列扫描,获得覆盖矩阵;

S2:通过结构化汉克尔变换算子将覆盖矩阵变换为块状汉克尔矩阵,对块状汉克尔矩阵进行奇异值分解,获得目标矩阵;

S3:通过目标矩阵并引入全变分正则项构建ST-TVR模型;

S4:通过粒子群算法对ST-TVR模型进行参数寻优,获得优化后的ST-TVR模型,通过ADMM算法对优化后的ST-TVR模型进行求解,获得去噪后的磁异常信号。

2.根据权利要求1所述的基于结构化汉克尔全变分正则化的磁异常检测方法,其特征在于,步骤S1具体为:

S11:通过多组磁异常信号构建大小为a×b的原始矩阵;

S12:设置大小为m×n的滑动窗,通过滑动窗对原始矩阵交替进行列扫描和行扫描,获得覆盖矩阵S,覆盖矩阵S中元素的表达式为:

其中,i为覆盖矩阵的行编号,j为覆盖矩阵的列编号,xi,j为原始矩阵中的元素,i=1,2,…,a-m+1;j=1,2,…,b-n+1;a、b、m和n均为大于0的正整数,且m小于a,n小于b。

3.根据权利要求1所述的基于结构化汉克尔全变分正则化的磁异常检测方法,其特征在于,步骤S2具体为:

S21:通过结构化汉克尔变换算子H将覆盖矩阵变换为块状汉克尔矩阵,结构化汉克尔变换的表达式为:

H(S)=[H(Si,j)]

=[H(S1,1) H(S1,2)…H(S1,b-n+1) H(S2,1) H(S2,2)…H(S2,b-n+1)…H(Sa-m+1,b-n+1)]T

其中,i为覆盖矩阵的行编号,j为覆盖矩阵的列编号,i=1,2,…,a-m+1;j=1,2,…,b-n+1;a、b、m和n均为大于0的正整数,且m小于a,n小于b;

S22:对块状汉克尔矩阵进行奇异值分解,获得原始重构信号计算公式为:

其中,S*为干净无噪声的理想磁信号,r为已知的真实无噪磁信号的秩;

通过原始重构信号构建目标矩阵

4.根据权利要求1所述的基于结构化汉克尔全变分正则化的磁异常检测方法,其特征在于,步骤S3中所述ST-TVR模型的表达式为:

其中,为目标矩阵,是数据保真项,是核范数正则项,是全变分正则项,为求变分符号,λ1为第一参数,λ2为第二参数。

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