[发明专利]一种透明掩模板及其制备方法和应用在审
申请号: | 202211301150.7 | 申请日: | 2022-10-24 |
公开(公告)号: | CN115497812A | 公开(公告)日: | 2022-12-20 |
发明(设计)人: | 韩斌;王光辉;马淑芳;许并社;穆涵香;刘博;王豆;胡雨 | 申请(专利权)人: | 陕西科技大学 |
主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027 |
代理公司: | 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙) 61223 | 代理人: | 庄华红 |
地址: | 710021*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 透明 模板 及其 制备 方法 应用 | ||
1.一种透明掩模板的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、分别在铜胶带和热释放胶带的中心打圆孔,并孔对孔将热释放胶带和铜胶带贴紧,之后在热释放胶带一侧贴一层PET胶带,制得待加工样品;
S2、采用磁控溅射工艺在S1待加工样品中的PET胶带表面镀一层导电金属薄膜;
S3、将S2处理后的样品置于聚焦离子束中,先绘制掩模图案,之后对圆孔中心掩模区域的PET胶带进行粗加工至PET胶带切透,得到预设掩模图案的孔,再调整束流对孔进行细加工,即得到PET掩模板;
S4、腐蚀掉PET掩模板中的导电金属薄膜,即制得透明掩模板。
2.根据权利要求1所述的透明掩模板的制备方法,其特征在于,S1中,所述铜胶带的厚度为1-50um。
3.根据权利要求1所述的透明掩模板的制备方法,其特征在于,S1中,所述PET胶带的厚度为1-20um。
4.根据权利要求1所述的透明掩模板的制备方法,其特征在于,S1中,铜胶带上圆孔的直径为0.5mm-5mm,热释放胶带上圆孔的直径为0.5mm-5mm。
5.根据权利要求1所述的透明掩模板的制备方法,其特征在于,S3中,掩模图案通过以下步骤绘制:将S2处理后的样品置于聚焦离子束中,在真空条件下,样品台旋转53°时,打开Ga离子源,获取待加工样品的图像,确定样品需要掩模的坐标位置,调整粗加工的束流,在聚焦离子束的操作主屏幕上根据实际需求画出掩模图案。
6.根据权利要求5所述的透明掩模板的制备方法,其特征在于,S3中,粗加工的束流为500-90000pA,细加工的束流为1-50000pA,细加工的束流小于粗加工的束流。
7.根据权利要求1所述的透明掩模板的制备方法,其特征在于,S3中,所述细加工是使孔的边缘平整度为10-30nm。
8.根据权利要求1所述的透明掩模板的制备方法,其特征在于,S2中,所述导电金属薄膜中的金属为金、银或铜。
9.根据权利要求1-8任一项所述的制备方法制得的透明掩模板。
10.根据权利要求9所述的透明掩模板在半导体器件制备中的应用,其特征在于,将所述透明掩模板贴于衬底材料上,并利用磁控溅射工艺溅射金属电极,制得半导体器件。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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