[发明专利]一种外场全尺寸目标的雷达RCS测量系统有效

专利信息
申请号: 202211309774.3 申请日: 2022-10-25
公开(公告)号: CN115372930B 公开(公告)日: 2023-01-24
发明(设计)人: 吴护林;彭刚;洪韬;张天才;陈知华;李忠盛;徐塱;邓贤明;田进军;项运良;方林全;张小华 申请(专利权)人: 北京测威科技有限公司;中国兵器工业第五九研究所;北京航空航天大学云南创新研究院
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41;G01S7/40;G01S13/88
代理公司: 北京三环同创知识产权代理有限公司 11349 代理人: 邵毓琴;赵勇
地址: 100086 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 外场 尺寸 目标 雷达 rcs 测量 系统
【说明书】:

发明实施方式提供一种外场全尺寸目标的雷达RCS测量系统,涉及外场RCS测量领域。所述测量系统包括:外场RCS测量装置,用于在外场对设置在目标区域的全尺寸目标进行雷达RCS测量;透波罩,其由透波材料制成,用于在进行所述RCS测量时,隔绝所述透波罩外部的外场环境对所述目标区域的背景电平的影响;其中,所述目标区域位于所述透波罩与承载面共同界定的内部空间中,所述目标区域与所述透波罩之间的最小间隔大于第一阈值。通过设置透波罩笼罩设置全尺寸目标的目标区域,可以避免天气等外场环境对目标区域背景电平的影响,保证背景对消技术对目标区域生效。

技术领域

本发明涉及雷达散射截面(Radar Cross Section,RCS)测量系统,特别是涉及一种外场全尺寸目标的雷达RCS测量系统。

背景技术

武器和飞行器的隐身性能,主要取决于RCS的大小。现有技术中,对于例如坦克、飞机等大型目标的RCS,通常在微波暗室中测量该大型目标的缩比模型的RCS值,然后根据测量的缩比模型的RCS值采用缩比原理推导出该大型目标的实际RCS值。由于推导时采用了诸多近似,因此,这样的暗室测量方法无法精确测量出大型目标的RCS值。

相关技术中,为获得更为真实、准确、可靠的大型目标的RCS值,可以在外场环境搭建大型的外场RCS测量系统,使用该外场RCS测量系统直接测量大型全尺寸目标的RCS值。

在RCS测量中,测量数据会受到设置被测目标的目标区域的背景电平的影响。对于目标区域边缘及目标区域内部,常采用背景对消技术消除背景电平的影响,优化测量数据。但是,外场RCS测量处于室外,其受室外环境(例如天气)影响。对于外场RCS测量数据,背景对消技术对目标区域基本全部无效,因为在外场RCS测量时,受室外测量环境(如风、雨雪等)的影响,目标区域内部及目标区域边缘的背景电平会不断发生变化。

发明内容

为解决上述技术问题,本发明提供了一种外场全尺寸目标的雷达RCS测量系统。该系统采用由透波材料制成的透波罩笼罩设置全尺寸目标的目标区域,使外场RCS测量装置对设置在透波罩内部的目标区域内的全尺寸目标进行外场RCS测量,可以避免测量时目标区域内部及区域边缘受天气变化影响,保证背景对消技术对目标区域生效。

在本发明的一些实施方式中,提供一种外场全尺寸目标的雷达RCS测量系统,所述测量系统包括:

外场RCS测量装置,用于在外场对设置在目标区域的全尺寸目标进行雷达RCS测量;

透波罩,其由透波材料制成,用于在进行所述RCS测量时,隔绝所述透波罩外部的外场环境对所述目标区域的背景电平的影响;

其中,所述目标区域位于所述透波罩与承载面共同界定出的内部空间中,所述目标区域与所述透波罩之间的最小间隔大于第一阈值。

在本发明的一些实施方式中,所述测量系统还包括:

数据处理装置,所述数据处理装置设置为采用进行所述RCS测量得到的测量数据对所述目标区域进行背景对消。

在本发明的一些实施方式中,所述承载面覆盖有吸波材料。

在本发明的一些实施方式中,所述外场RCS测量装置包括硬件距离门;所述硬件距离门设置为根据所述第一阈值切除所述透波罩所产生的雷达反射波。

在本发明的一些实施方式中,所述第一阈值不小于1.5米。

在本发明的一些实施方式中,所述透波罩为半球形。

在本发明的一些实施方式中,所述透波材料的透波率在95%以上。

在本发明的一些实施方式中,所述透波材料为透明的。

在本发明的一些实施方式中,所述透波罩为充气膜结构,所述充气膜结构内部可充入气体以使透波罩展开并维持设定形状。

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