[发明专利]激光微区原位氧同位素分析装置

权利要求书

1.一种激光微区原位氧同位素分析装置，其特征在于，包括剥蚀池、短脉冲剥蚀激光器、长脉冲加热激光器、脉冲延迟控制发生器和同位素分析装置；

剥蚀池内置含氧同位素样品且充满还原性气体；

短脉冲剥蚀激光器用于产生短脉冲剥蚀激光，短脉冲剥蚀激光聚焦于样品表面产生剥蚀羽；

长脉冲加热激光器用于聚焦或准直平行光于样品表面上方短脉冲剥蚀激光产生的剥蚀羽；

脉冲延迟控制发生器与长脉冲加热激光器和短脉冲剥蚀激光器相连，用于控制两种激光脉冲的相对延迟，使得长脉冲加热激光的脉冲宽度值大于剥蚀羽的寿命，实现对剥蚀羽加热达到剥蚀羽与还原性气体充分反应生成氧气，并输送至同位素分析装置中进行分析。

2.根据权利要求1所述的激光微区原位氧同位素分析装置，其特征在于，脉冲延迟控制发生器同步或异步控制长脉冲加热激光器和短脉冲剥蚀激光器。

3.根据权利要求1所述的激光微区原位氧同位素分析装置，其特征在于，该装置还包括第一扩束镜和第一聚焦镜，第一扩束镜和第一聚焦镜依次设置于短脉冲剥蚀激光器的出光口，以对短脉冲剥蚀激光进行扩束和聚焦。

4.根据权利要求1所述的激光微区原位氧同位素分析装置，其特征在于，该装置还包括第二扩束镜和第二聚焦镜，第二扩束镜和第二聚焦镜依次设置于长脉冲加热激光器的出光口，以对长脉冲加热激光进行扩束和聚焦。

5.根据权利要求1所述的激光微区原位氧同位素分析装置，其特征在于，长脉冲加热激光器利用含氧同位素样品中与氧结合的化学键对某种波段的光有强烈的吸收，实现对剥蚀羽加热达到剥蚀羽与还原性气体充分反应生成氧气。

6.根据权利要求1所述的激光微区原位氧同位素分析装置，其特征在于，同位素分析装置为气体质谱仪，由气体质谱仪检测出氧同位素的含量及比值，实现对样品微区原位氧同位素的分析。

7.根据权利要求1所述的激光微区原位氧同位素分析装置，其特征在于，该装置还包括气体纯化装置，实现将剥蚀池中反应生成的多种非氧气气体滤除，使纯净的氧气进入同位素分析装置。