[发明专利]一种光纤弯曲位置测量装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种测量光纤弯曲位置的方法，对注入到被测光纤中的光信号的偏振态进行改变，获取与改变后的偏振态对应的光缆弯曲变化位置定位数值，当获取的所述光缆弯曲变化位置定位数值的数量达到指定数值，将各所述光缆弯曲变化位置定位数值作为光纤长度值按照数值大小进行排序，将数值最小的所述光纤长度值作为所述被测光纤的弯曲位置测量结果。能够有效消除光纤双折射对光缆弯曲位置定位测量结果的影响，提高测量的精度，减小误差。

技术领域

本发明涉及光纤传感测量技术领域，特别涉及一种光纤弯曲位置测量方法。本发明同时还涉及一种光纤弯曲位置测量装置、电子设备及存储介质。

背景技术

在使用OTDR快速、精确寻找光缆故障点位置时，常常需要在光缆链路中选取一个或多个参考点，并需要知道这些参考点到OTDR测量点之间光纤的长度。为了无损地测量参考点到OTDR测量点之间光纤的长度，现有技术通过将参考点位置的光缆进行时变弯曲，弯曲直径变化0.5m～1m，然后使用P-OTDR测量光缆弯曲变化处到P-OTDR测量端点之间光纤的长度。

在光缆防窃听系统中，也有使用P-OTDR来侦测光缆窃听活动的发生。当不法者对通信光缆系统进行窃听时，需要将光缆中的光纤或光缆保护盒中的光纤取出进行处理，该过程中光纤曲率不可避免地发生变化。而光缆防窃听系统中使用的P-OTDR可探测到光纤曲率的变化，并可测量光纤曲率变化位置到P-OTDR测量端点之间光纤的长度，从而产生告警并定位。

使用P-OTDR测量光缆弯曲变化处到P-OTDR测量端点之间光纤的长度，原理是测量被测光纤中光散射信号偏振态发生变化的位置。

然而，发明人在实现本发明的过程中发现，在实际的光缆中，由于光纤中存在双折射现象，沿光纤轴向长度上，不同的光纤位置，光散射信号的偏振态是随时间慢变的。这导致使用P-OTDR测量光缆弯曲变化处到OTDR测量点之间光纤的长度时，由于光缆弯曲变化处的光散射信号有可能正处于某个偏振态，在该偏振态下，光缆弯曲引起的P-OTDR获得的散射光信号变化幅度很小，需要再经过一段距离后，即半个光纤双折射拍长，散射光信号变化幅度才会变得较大。

由此可见，通过现有的测量方法会导致有时获得的光纤的长度值比实际值大，误差可达5m～50m，而且误差值与光纤双折射拍长有关，光纤双折射拍长值大，通过P-OTDR获得的定位误差也就会越大。因此，如何针对双折射问题提高光纤测量中的定位精度，成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种提高P-OTDR定位精度的测量装置和方法，以消除光纤双折射引起的影响，提高测量的精度。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

第一方面，提供一种光纤弯曲位置测量方法，应用于P-OTDR定位测量系统中，该方法包括：

对注入到被测光纤中的光信号的偏振态进行改变；

获取与改变后的偏振态对应的光缆弯曲变化位置定位数值；

当获取的所述光缆弯曲变化位置定位数值的数量达到指定数值，将各所述光缆弯曲变化位置定位数值作为光纤长度值按照数值大小进行排序；

将数值最小的所述光纤长度值作为所述被测光纤的弯曲位置测量结果。

在一些实施例中，对注入到被测光纤中的光信号的偏振态进行改变，具体为：

按照预设的改变值范围，设置当前注入至所述被测光纤的光信号的偏振角。

在一些实施例中，所述指定数值为小于等于10且大于等于2的整数；

所述改变值范围为10度至90度。

第二方面，提供一种光纤弯曲位置测量装置，所述装置包括：