[发明专利]用于确定衰减速率的量度的方法和质谱法系统在审

专利信息
申请号: 202211329799.X 申请日: 2022-10-27
公开(公告)号: CN116068109A 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: K·福特;A·马卡洛夫;K·埃西科夫 申请(专利权)人: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
主分类号: G01N30/72 分类号: G01N30/72;G01N30/86;G01N27/62
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 周全
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 确定 衰减 速率 量度 方法 法系
【权利要求书】:

1.一种用于利用图像电流检测来确定在质量分析仪中进行质量分析的离子样品的衰减速率的量度的方法,所述方法包括:

从所述离子样品的使用所述质量分析仪获得的瞬态检测中接收所述离子样品的检测信号,所述离子样品的所述检测信号具有随时间推移的衰减速率;以及

基于所述离子样品的外推分辨率确定所述离子样品的所述衰减速率的所述量度,在所述离子样品的所述检测信号的随时间推移的所述衰减速率受碰撞效应支配的条件下,所述外推分辨率为所述检测信号的预期分辨率。

2.一种用于利用图像电流检测来确定在质量分析仪中进行质量分析的离子样品的衰减速率的量度的方法,所述方法包括:

从所述离子样品的使用所述质量分析仪获得的瞬态检测中接收所述离子样品的检测信号,所述离子样品的所述检测信号具有随时间推移的衰减速率;

基于以下确定所述离子样品的调整函数:

所述离子样品的所述检测信号的强度量度和/或质荷比量度;以及

使用所述质量分析仪先前针对校准物获得的检测信号的强度量度和/或质荷比量度;以及

通过使用所述调整函数调整所述离子样品的所述检测信号的随时间推移的所述衰减速率的量度来确定所述离子样品的所述衰减速率的所述量度。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的方法,其包括仅在满足一个或多个条件时才确定所述离子样品的所述衰减速率的所述量度,所述一个或多个条件包括以下中的任何一项或多项:所述检测信号的峰是否是基线分辨的;所述检测信号的信噪比满足阈值条件;和/或所述检测信号的峰属于同位素簇。

4.根据从属于权利要求1时的前述权利要求中任一项所述的方法,其中在所述检测信号的预期分辨率相对于在用于产生所述离子样品的所述检测信号的样品离子云中的样品离子的增加的数量稳定的条件下,所述离子样品的所述外推分辨率为所述检测信号的所述分辨率。

5.根据从属于权利要求1时的前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述离子样品的所述外推分辨率是根据外推函数确定的,所述外推函数在受碰撞效应支配的条件下提供所述检测信号的预期分辨率,所述外推函数是基于多个分辨率量度和多个信号强度量度确定的,所述多个分辨率量度和所述多个信号强度量度不是在受碰撞效应支配的条件下获得的。

6.根据权利要求5所述的方法,其中所述外推函数基于一种或多种校准物的多个分辨率量度和多个信号强度量度。

7.根据从属于权利要求1时的前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述离子样品的所述外推分辨率是根据以下确定的:多个分辨率量度和多个信号强度量度的拟合函数,所述拟合函数在受碰撞效应支配的条件下提供所述检测信号的预期分辨率;和/或多个分辨率量度和多个信号强度量度的平均分辨率,优选地为滚动平均值或加权平均值,所述平均分辨率在受碰撞效应支配的条件下提供所述检测信号的预期分辨率。

8.根据权利要求7所述的方法,其中所述离子样品的所述外推分辨率是根据多个分辨率量度和多个信号强度量度的加权分辨率确定的,其中:

所述多个分辨率量度包括一个或多个相对高的分辨率量度和一个或多个相对低的分辨率量度;并且

所述一个或多个相对高的分辨率量度被加权以相比于所述一个或多个相对低的分辨率量度提供对所述加权分辨率的更大贡献。

9.根据权利要求7或权利要求8中任一项所述的方法,其中所述加权分辨率基于所述离子样品的多个同位素变体的分辨率。

10.根据权利要求6至9所述的方法,其中所述多个分辨率量度是针对多种不同同位素组成和电荷组成确定的。

11.根据权利要求6至10中任一项所述的方法,其中所述多个分辨率量度是针对洗脱谱的多个保留时间确定的,优选地其中所述洗脱谱是气相色谱法(GC)和/或液相色谱法(LC)洗脱谱。

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