[发明专利]一种RFID芯片贴装方法、系统有效
申请号: | 202211340765.0 | 申请日: | 2022-10-29 |
公开(公告)号: | CN115513071B | 公开(公告)日: | 2023-08-04 |
发明(设计)人: | 王毅;向清宝;张占平 | 申请(专利权)人: | 深圳市哈德胜精密科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/58;H01L21/67;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/70 |
代理公司: | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人: | 张桂钦 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙华区观湖街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 rfid 芯片 方法 系统 | ||
本申请涉及芯片组装的领域,尤其是涉及一种RFID芯片贴装方法、系统,其包括如下步骤:获取点胶位对应的点胶位置数据;依据点胶位置数据控制点胶头移动往点胶位点胶;获取全部待贴装芯片在MAP图对应的芯片显示排布数据;依据芯片显示排布数据获取全部好芯片对应的芯片位置数据;依据芯片位置数据确定拾取起点位置数据;控制贴装头将起点位置数据对应的的芯片放置到点胶位;将点胶后的芯片进行固化;控制贴装头继续拾取芯片放置到点胶位,其中,点胶位为下一个需要贴装芯片的位置。本申请具有提高RFID芯片贴装效率的效果。
技术领域
本申请涉及芯片组装的领域,尤其是涉及一种RFID芯片贴装方法、系统。
背景技术
在在半导体领域里,拾取RFID芯片时经常会遇到连续5个以上的坏芯片,而坏芯片不能拾取需要跳过,由于Wafer盘绷紧以后排列位置会发生变化,从而导致跳过多个坏芯片时机械定位会发生很大误差。
目前所了解的解决办法,是通过遇到3个以上的坏芯片就自动停机,进行重新定位,在重新社区,但是在设备重新选定起点进行拾取过程中,需要人工重新设置起点,而每一个Wafer盘上放置的芯片数量较多,若是设备需要多次启动,便需要操作人员及时设置起点,所以会导致芯片整体贴装效率低。
发明内容
为了提高RFID芯片贴装效率,本申请提供一种RFID芯片贴装方法、系统。
第一方面,本申请提供的一种RFID芯片贴装方法,采用如下的技术方案:
一种RFID芯片贴装方法,包括如下步骤:
获取点胶位对应的点胶位置数据;
依据点胶位置数据控制点胶头移动往点胶位点胶;
获取全部待贴装芯片在MAP图对应的芯片显示排布数据;
依据芯片显示排布数据获取全部好芯片对应的芯片位置数据;
依据芯片位置数据确定拾取起点位置数据;
控制贴装头将起点位置数据对应的的芯片放置到点胶位;
将点胶后的芯片进行固化;
控制贴装头继续拾取芯片放置到点胶位,其中,点胶位为下一个需要贴装芯片的位置。
通过采用上述技术方案,通过将全部需要贴装的芯片放置在MAP图,并且获取全部芯片的放置位置,也就是对应的芯片显示排布数据,通过MAP图能够识别芯片的好坏,并可以确定MAP图上全部好的芯片对应的芯片位置数据,在贴装头吸附芯片时,系统将好的芯片对应的芯片位置数据定义为拾取起点位置数据,然后控制贴装头将拾取起点位置数据上的芯片进行拾取,并且移动至点胶位上,通过上述操作,能够确保贴装头在拾取芯片时,可以拾取到好的芯片,从而不会连续拾取到坏的芯片导致设备停机。另外通过将好的芯片在对应基板上固化之后,贴装头可以继续拾取好的芯片进行贴装工作;综上所述,在整个RFID芯片贴装过程中,通过提前将好的芯片位置在MAP图标识出来,在贴装头拾取芯片的过程中,可以直接将MAP图上全部好的芯片先拾取,可以避免出现连续出现多次拾取坏的芯片所导致设备停机的情况,在中间的贴装过程不需要人工再去设置拾取起点,从而是在RFID芯片贴装设备运行更加流程,提供贴装效率。
可选的,控制贴装头将起点位置数据对应的的芯片放置到点胶位过程中,进行如下步骤:
获取芯片在贴装头上对应的RFID芯片贴装位置数据,其中,芯片为已经被贴装头吸附的;
调取贴装头上预先设置的芯片预留位置数据;
依据RFID芯片贴装位置数据与芯片预留位置数据判断贴装后芯片是否有偏移;
若是则控制设备对芯片进行纠偏,否则执行对芯片的固化操作。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造