[发明专利]一种带选择开关的电容式电压互感器、测量系统及方法在审
申请号: | 202211350198.7 | 申请日: | 2022-10-31 |
公开(公告)号: | CN115902337A | 公开(公告)日: | 2023-04-04 |
发明(设计)人: | 刘晓飞;付炜平;杨世博;冯鹏森;李建鹏;赵冀宁;张宝全 | 申请(专利权)人: | 国网河北省电力有限公司超高压分公司;国家电网有限公司 |
主分类号: | G01R15/18 | 分类号: | G01R15/18;G01R35/02;G01R27/26 |
代理公司: | 石家庄新世纪专利商标事务所有限公司 13100 | 代理人: | 呼春辉 |
地址: | 050070 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 选择 开关 电容 电压互感器 测量 系统 方法 | ||
本发明公开了一种带选择开关的电容式电压互感器、测量系统及方法,涉及电容式电压互感器技术领域;电容式电压互感器包括第一节电容、中间变压器和选择开关,中间变压器的高压线圈的高压端接第一节电容侧第一电容与第二电容的结合处,选择开关的第二接点接第一电容与第二电容的结合处;系统包括上述电容式电压互感器和介损测试仪,方法包括第一步将选择开关的公共端与第二接点连接导通至地,第二步将第一节电容侧的第一电容的底部取消接地、改接至介损测试仪的高压端,用反接线法获得第一节电容侧第一电容的介损或者电容量;其通过第一节电容、中间变压器和选择开关等,为实现测量电容式电压互感器第一节电容的介损或电容量效果好提供了基础。
技术领域
本发明涉及电容式电压互感器技术领域,尤其涉及一种带选择开关的电容式电压互感器、测量系统及方法。
背景技术
授权公告号为CN 103076560 B,名称为电气试验设备非接触式测量组合装置及其应用。包括一个控制主机和多个检测终端;它们通过射频模块远程通信组成星型网络,从而形成一点对多点的组合测量装置;测量组合装置的一端通过检测终端与电力设备连接,另一端通过控制主机与电气试验设备连接;将检测终端的模块与电力设备连接,从而对电力设备进行相应的电气试验测量。该装置基于非接触式传感技术和射频技术,采用非接触式传感器技术替代传统测量方式,通过联网技术,实现数字化采集和传输,将测量、采集等工序有效分开,避免工作人员在风险区域进行工作,提高工作效率、降低作业风险。
授权公告号为CN 203117297 U,名称为500kV CVT多项介损测试系统。包括车载介损测试仪和电容式电压互感器,所述车载介损测试仪包括变压器,变压器有两个输出绕组,输出绕组一的一端串联连接继电器,另一端接地;变压器输出绕组二的一端接地,另一端通过高压真空继电器接至电容式电压互感器。该测试系统测量过程自动,一次接线一键操作,完成500kVCVT全部试验项目,有效减少试验用时。通过有效的功能整合,减少体积,减少接线次数,提高工作效率,降低劳动强度,时间缩短2/3,仪器输出两通道,同时完成两个电容测量。
授权公告号为CN 204789832 U,名称为CVT高压试验的换线装置及CVT高压试验装置。包括第一测试电路、第二测试电路及连接导线,连接导线连接所述第一测试电路和第二测试电路。第一测试电路包括第一测试导线、高压线、第一控制开关和第二控制开关。第二测试电路包括第二测试导线、测量线和第三控制开关。通过控制第一控制开关及第二控制开关的状态,从而控制测试电路的导通和断开,改变电路的连接方式,实现自动换线功能。将高空换线交由换线装置完成,减少了该工作所需要的人员数量和体力投入,降低了试验过程中存在的设备和人身危害风险。通过转换内部测量通道的导通和关闭,完成对CVT不同分压电容的高压测试,实现了一次接线即可完成整个高压试验,提高了工作效率。
授权公告号为CN 211505705 U,名称为一种CVT多项介损测试系统。它包括多功能测试装置,多功能测试装置上设有一次侧电容接线点、二次侧绕组接线点和介损测试仪接线点,一次侧电容接线点与电容式电压互感器上一次侧电容电连接,二次侧绕组接线点与电容式电压互感器上二次侧线圈电连接,介损测试仪接线点与介质损耗测试仪上测试点电连接。通过内部继电器组合实现电容式电压互感器的各种介损测量接法,组合式的插孔接线便于操作,提高效率,节省时间,免除了多种接线方式转换需要多次攀爬导致的安全风险。
结合上述四篇专利文献和现有的技术方案,发明人分析发现在现有技术方案中存在如下技术问题。
电容式电压互感器CVT下节电容即第一节电容的介损和电容量测试需要采用自激法,从电容式电压互感器CVT的二次感应一个电压来测量。而自激法测试时由于测试方法较复杂、施加电压低,受现场电磁干扰影响大,有时难以反映电容式电压互感器CVT的真实绝缘状况。
现有技术问题及思考:
如何解决测量电容式电压互感器第一节电容的介损和电容量效果较差的技术问题。
发明内容
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