[发明专利]灵活宽带隙双脉冲测试方法在审
申请号: | 202211355240.4 | 申请日: | 2022-11-01 |
公开(公告)号: | CN116068353A | 公开(公告)日: | 2023-05-05 |
发明(设计)人: | V·希瓦拉姆;N·R·海格德;P·阿迪加;K·N·H·斯里;T·米亚扎基;Y·M·派;M·文卡特拉杰 | 申请(专利权)人: | 特克特朗尼克公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 张健;吕传奇 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 灵活 宽带 脉冲 测试 方法 | ||
1.一种测试和测量仪器,包括:
用户界面;
一个或多个探测器,要连接到测试中设备(DUT);以及
一个或多个处理器,被配置成执行使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码:
通过所述用户界面来接收一个或多个用户输入,所述用户输入中的至少一个要标识要在所述DUT上执行的至少一个分析;
当所述DUT由来自电源的功率的应用以及来自源仪器的第一和第二脉冲或多个脉冲中的一个的应用来激活时,从所述DUT接收波形数据;
在所述波形数据上执行所述至少一个分析;以及
在所述用户界面上显示所述波形数据和分析。
2.如权利要求1所述的测试和测量仪器,进一步包括所述测试和测量仪器与所述源仪器之间的通信信道,并且其中所述一个或多个处理器进一步被配置成执行使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码:将所述测试和测量仪器与所述源仪器同步。
3.如权利要求1所述的测试和测量仪器,其中使所述一个或多个处理器接收所述一个或多个用户输入的代码包括使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码:接收用于标识开关参数分析、开关定时分析、二极管反向恢复分析和电容分析之一的一个或多个用户输入。
4.如权利要求3所述的测试和测量仪器,其中所述用户输入标识开关参数分析,并且所述一个或多个处理器进一步被配置成:显示用户可选择的开关参数的集合以用于分析,所述用户可选择的开关参数包括Eon、Eoff、TonLoss、ToffLoss、Vce(peak)、Ic(peak)、Vce(high)、Ic(high)和具有统计数字的开关总结测量结果中的一个或多个。
5.如权利要求1所述的测试和测量仪器,其中使所述一个或多个处理器接收一个或多个用户输入的代码包括使所述一个或多个处理器接收用于指定自动选择的用户输入的代码,并且所述一个或多个处理器进一步被配置成:自动地设定针对所述第二脉冲的脉冲区或供用户选择针对所述第二脉冲的脉冲区的指定。
6.如权利要求1所述的测试和测量仪器,其中使所述一个或多个处理器在所述用户界面上显示所述波形数据和分析的代码包括使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码:自动地对所述波形数据和显示分析数据中的感兴趣的区进行注释。
7.如权利要求1所述的测试和测量仪器,其中使所述一个或多个处理器执行所述至少一个分析的代码包括使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码:执行能量损耗分析;以及向用户通知失败,所述失败是丢失的第二脉冲。
8.如权利要求1所述的测试和测量仪器,其中所述一个或多个处理器进一步被配置成执行使所述一个或多个处理器执行下述各项中的至少一个的代码:将信号调节应用于来自所述DUT的波形数据以减轻噪声的影响;以及设定滞后带以容纳所述波形数据中的噪声。
9.如权利要求1所述的测试和测量仪器,其中所述一个或多个处理器进一步被配置成执行使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码:选择所述波形数据中的特定脉冲区以用于显示,并响应于用户输入而允许用户缩放到所述波形数据的特定区;以及导航到多个区,所述一个或多个处理器还要在所述特定区被显示时显示所述特定区的分析数据。
10.如权利要求1所述的测试和测量仪器,其中使所述一个或多个处理器接收一个或多个用户输入的代码包括使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码:接收用户选择的源、电压和电流水平中的至少一个,电平是绝对或百分比水平之一。
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