[发明专利]颅内压监测系统及颅内压传感器的时间漂移校正方法在审
申请号: | 202211365092.4 | 申请日: | 2022-11-03 |
公开(公告)号: | CN115414023A | 公开(公告)日: | 2022-12-02 |
发明(设计)人: | 孙浩;黄祖炎;刘文博 | 申请(专利权)人: | 华科精准(北京)医疗科技有限公司 |
主分类号: | A61B5/03 | 分类号: | A61B5/03;G01D3/032;G01D18/00 |
代理公司: | 北京中和立达知识产权代理有限公司 11756 | 代理人: | 孟姣 |
地址: | 102609 北京市大兴区中关村科技园大兴*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 颅内压 监测 系统 传感器 时间 漂移 校正 方法 | ||
本发明提供一种颅内压监测系统及颅内压传感器的时间漂移校正方法,该系统包括:颅内压传感器,颅内压监测仪;所述颅内压传感器用于采集数据;所述颅内压监测仪连接所述颅内压传感器,所述颅内压监测仪加载有时间漂移校正模块,所述时间漂移校正模块根据预先存储的时间漂移校正函数,对根据采集数据生成的颅内压数据进行校正;其中,所述时间漂移校正函数是预先通过模拟颅内环境获取的。本发明预先通过模拟颅内环境中准确地获取了时间漂移校正函数,用于在实际测量中对测量到的颅内压数据进行校正,提升了颅内压数据的准确性,在长时间监测情况下,也无需更换并重新植入颅内压传感器。
技术领域
本发明涉及生理参数检测领域,尤其涉及一种颅内压监测系统及颅内压传感器的时间漂移校正方法。
背景技术
现有的颅内压监测产品在植入颅内后,因无法直接接触压力传感器对其进行校准,随着植入时间的增长,压力传感器的误差会增大,为了控制颅内压检测的精度,部分厂家会限制压力传感器植入的时间不超过6天,对于需要长期检测的患者,则需要重新植入压力传感器,增加了患者手术感染的风险。
针对现有技术中随着时间测增长,颅内压测量精度降低,重新植入压力传感器存在的过程繁琐,成本较高的缺陷,本发明提供一种颅内压监测系统及颅内压传感器的时间漂移校正方法。
发明内容
本发明提供一种颅内压监测系统及颅内压传感器的时间漂移校正方法,用以解决现有技术中随监测时长增加,颅内压传感器的测量精度降低,长时间监测情况下需更换颅内压传感器的缺陷。
本发明提供一种颅内压监测系统,包括:
颅内压传感器,颅内压监测仪;
所述颅内压传感器用于采集数据;
所述颅内压监测仪连接所述颅内压传感器,所述颅内压监测仪加载有时间漂移校正模块,所述时间漂移校正模块根据预先存储的时间漂移校正函数,对根据采集数据生成的颅内压数据进行校正;其中,所述时间漂移校正函数是预先通过模拟颅内环境获取的。
根据本发明提供的一种颅内压监测系统,所述时间漂移校正函数是通过如下方式获得的:
将颅内压传感器放入模拟颅内环境,在设定压力条件下,按照预设时间间隔获取实测颅内压数据;
根据所述设定压力条件,以及所述实测颅内压数据,生成偏移误差;
根据所述偏移误差以及所述实测颅内压数据的采集时间,生成所述时间漂移校正函数。
本发明还提供一种颅内压传感器的时间漂移校正方法,包括:
获取初步颅内压数据,以及所述初步颅内压数据的生成时间;
根据所述初步颅内压数据的生成时间,结合时间漂移校正函数,确定相应的漂移量;其中,所述时间漂移校正函数是预先通过模拟颅内环境获取的;
根据所述漂移量对所述初步颅内压数据进行校正。
根据本发明提供的一种颅内压传感器的时间漂移校正方法,所述时间漂移校正函数通过如下方式获取:
将颅内压传感器放入模拟颅内环境,在设定压力条件下,按照预设时间间隔获取实测颅内压数据;
根据所述设定压力条件,以及所述实测颅内压数据,生成偏移误差;
根据所述偏移误差以及所述实测颅内压数据的采集时间,生成所述时间漂移校正函数。
根据本发明提供的一种颅内压传感器的时间漂移校正方法,所述根据所述偏移误差以及所述实测颅内压数据的采集时间,生成所述时间漂移校正函数,包括:
以所述偏移误差为纵坐标,相应的实测颅内压数据的采集时间为横坐标,生成一系列离散点;
根据所述一系列离散点,利用最小二乘法拟合得到所述时间漂移校正函数。
根据本发明提供的一种颅内压传感器的时间漂移校正方法,所述模拟颅内环境为预设PH值,预设渗透压,预设温度的人工脑脊液。
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