[发明专利]一种基于稀疏表征的磁纳米粒子成像图像重建方法在审
申请号: | 202211374390.X | 申请日: | 2022-11-04 |
公开(公告)号: | CN115844362A | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
发明(设计)人: | 孙世杰;陈瑶瑶;钟景;徐立军 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | A61B5/05 | 分类号: | A61B5/05 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 稀疏 表征 纳米 粒子 成像 图像 重建 方法 | ||
1.一种基于稀疏表征的磁纳米粒子成像图像重建方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
步骤S10,利用磁纳米粒子成像系统,对成像空间施加扫描磁场和激励磁场,通过移动单位体积的磁纳米粒子样品,采集其产生的磁化响应信号并进行频谱分析,获取系统矩阵A;
步骤S20,将被测对象放置于成像空间,被测对象的磁纳米粒子浓度分布为c,采集被测对象产生的磁化响应信号并进行频谱分析,将获取的频谱信号记为U,并构建方程:
U=A·c;
步骤S30,对成像区域进行网格划分,在成像区域内自适应选择径向基函数的中心点,在径向基函数上加入紧支撑函数,得到紧支径向基函数为:
其中,为径向基函数,D为紧支半径,β为紧支参数,(xi,yi)为基函数中心点坐标;
步骤S40,将待求磁纳米粒子浓度分布c写成上述紧支径向基函数加权的形式:
c=ω1t1+ω2t2+…+ωmtm,
其中,tm为第m个中心点确定的紧支径向基函数,ωm为第m个紧支径向基函数的权重;
步骤S50,将c=ω1t1+ω2t2+…+ωmtm代入方程U=A·c中,求解得到磁纳米粒子浓度分布,并进行可视化显示成像。
2.根据权利要求1所述的一种基于稀疏表征的磁纳米粒子成像图像重建方法,其特征在于,步骤S30中,所述径向基函数对于中心点选取采用的自适应方法具体为:
通过传统算法进行预重建,选取阈值对图像进行二值化,确定待测对象所在的目标区域,在目标区域内设置径向基中心点之间的间隔为r1(r10),在目标区域外设置径向基中心点之间的间隔为r2(r20),其满足的条件为:r1r2。
3.根据权利要求1所述的一种基于稀疏表征的磁纳米粒子成像图像重建方法,其特征在于,步骤S50包括:
步骤S51,将磁纳米粒子浓度与紧支径向基函数之间的关系c=ω1t1+ω2t2+…+ωmtm写成矩阵形式:
c=T·W,
其中,T={t1,t2,…,tm}为基函数的集合,W=[ω1,ω2,…,ωm]为基函数所对应的权重;
步骤S52,将c=T·W代入U=A·c,得到新的待求解方程为U=B·W,其中B=A·T;
步骤S53,对上述方程进行Tikhonov标准化:
(αI+B*B)W=B*U,
其中,α为正则化参数,I为单位矩阵,B*为B的伴随矩阵。记S=αI+B*B,P=B*U,通过代数重建算法对W进行求解,求解公式为:
其中,k为迭代次数,1≤i≤N,1≤j≤m,λ(k)为松弛因子;
步骤S54,将上述求解得到的W代入c=T·W,得到磁纳米粒子浓度分布。
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