[发明专利]一种微波暗室多静区RCS测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种微波暗室多静区RCS测试系统，其特征在于，包括：多源矢量网络分析仪、至少两条收发链路、至少两个发射馈源和至少两个接收馈源；其中，每个发射馈源均对应一个静区，且不同发射馈源对应不同的静区；

所述收发链路用于连接所述多源矢量网络分析仪、所述发射馈源和所述接收馈源；其中，所述静区的数量与所述收发链路的数量相同，且不同静区在同一时刻的测试频率点的测试频率不同。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，包括：

所述收发链路包括功率放大器、定向耦合器和低噪声放大器。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，包括：

针对每一条收发链路，所述多源矢量网络分析仪的发射端口、功率放大器、定向耦合器和发射馈源依次连接；所述多源矢量网络分析仪的测量端口、低噪声放大器和静区的接收馈源依次连接；所述多源矢量网络分析仪的参考端口与该定向耦合器相连接。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，包括：

任意两个所述静区互不重合；

所述发射馈源的数量与所述静区的数量相同。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，包括：

任意两个所述静区在同一时刻的测试频率点的测试频率之间的差值不小于1MHz。

6.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，包括：

每个所述静区内的测试频率点的数量均相同。

7.根据权利要求1至6中任一所述的系统，其特征在于，包括：

每个所述静区内的相邻测试频率点的测试频率之差不小于1MHz。

8.一种根据权利要求1-7任一所述的系统的微波暗室多静区RCS测试方法，其特征在于，所述方法包括：

接收测试指令；

根据所述测试指令，确定所述系统中每个静区内的测试频率范围、测试频率点；

根据每个静区内的测试频率范围、测试频率点，对所述系统中的每个静区进行定标测试；

对每个所述静区内的目标进行RCS测试。

9.根据权利要求8中所述的方法，其特征在于，

任意两个所述静区在同一时刻的测试频率点的测试频率之间的差值不小于1MHz；

每个静区内的测试频率范围和测试频率点的数量均相同。

10.一种计算设备，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现如权利要求8或9所述的方法。