[发明专利]一种硅片表面的倒金字塔绒面结构的制备方法在审
申请号: | 202211382346.3 | 申请日: | 2022-11-07 |
公开(公告)号: | CN115579409A | 公开(公告)日: | 2023-01-06 |
发明(设计)人: | 李绍元;魏永强;马文会;陈秀华;席风硕;吕国强;陈正杰;于洁 | 申请(专利权)人: | 昆明理工大学 |
主分类号: | H01L31/0236 | 分类号: | H01L31/0236;H01L31/18;H01L31/06 |
代理公司: | 北京睿智保诚专利代理事务所(普通合伙) 11732 | 代理人: | 张宁 |
地址: | 650000 云南*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硅片 表面 金字塔 结构 制备 方法 | ||
1.一种硅片表面的倒金字塔绒面结构的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)刻蚀:将硅片浸泡于含有氧化剂、刻蚀剂、金属离子的刻蚀液中,通过光照诱导制备得到刻蚀后的硅片;
(2)去除金属颗粒:将刻蚀后的硅片浸泡于金属消除剂中,浸泡结束后得到硅片表面的倒金字塔绒面结构。
2.根据权利要求1所述的硅片表面的倒金字塔绒面结构的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)刻蚀前还包括预刻蚀,所述预刻蚀的具体方法为:将硅片浸泡于含有AgNO3、HF、H2O2的预刻蚀液中进行预刻蚀;所述预刻蚀的温度为30~40℃,所述预刻蚀的时间为1~5min;所述AgNO3的浓度为0.0001~0.001M,所述HF的浓度为1~5M,所述的H2O2浓度为1~3M。
3.根据权利要求1所述的硅片表面的倒金字塔绒面结构的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)中硅片为金刚线切割单晶或多晶硅片;所述步骤(1)刻蚀液中氧化剂为酸性介质氧化剂,所述酸性介质氧化剂为H2O2、CH3COOH、Na2Cr2O7、H2CrO4、HNO3、KMnO4或(NH4)2S2O2,所述氧化剂的浓度为0.5~4M。
4.根据权利要求2所述的硅片表面的倒金字塔绒面结构的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)刻蚀液中刻蚀剂为HF,所述HF的浓度为0.5~5M。
5.根据权利要求2或3所述的硅片表面的倒金字塔绒面结构的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)刻蚀液中金属离子的来源为金属盐或金属酸性氧化物,所述金属盐为银盐、铜盐、镍盐中的一种或多种,所述金属酸性氧化物为AuCl3·HCl·4H2O或H2PtCl6,所述金属离子的浓度为0.0001~1M。
6.根据权利要求2或3所述的硅片表面的倒金字塔绒面结构的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)中光照的时间为3~15min,所述光照的光源为太阳光、氙光或白光,所述光源的功率为0~30W,所述光源的光通量为0~10000LM,所述光源距硅片的距离为15~30cm。
7.根据权利要求5所述的硅片表面的倒金字塔绒面结构的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)中光照诱导的过程中溶液的温度控制在20~40℃。
8.根据权利要求6所述的硅片表面的倒金字塔绒面结构的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)中金属消除剂为HCl、H2O2、H2O的混合溶液或硝酸溶液;所述混合溶液中HCl、H2O2、H2O的摩尔浓度比为1:1~3:3~8,所述硝酸溶液的浓度为30~50wt%;所述步骤(2)中浸泡的温度为20~25℃,浸泡的时间为3~10min。
9.根据权利要求7或8所述的硅片表面的倒金字塔绒面结构的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)中硅片还包括前处理,前处理的具体过程为:
硅片的清洗:依次采用丙酮、乙醇、水清洗硅片;
去除氧化层与非晶层:将清洗后的硅片放入HF和氧化剂的混合液或强碱中浸泡,去除氧化层与非晶层。
10.根据权利要求9所述的硅片表面的倒金字塔绒面结构的制备方法,其特征在于,所述采用丙酮、乙醇、水清洗硅片的时间独立的为5~10min;所述HF和氧化剂的混合液中氧化剂为酸性介质氧化剂,所述酸性介质氧化剂为H2O2、CH3COOH、Na2Cr2O7、H2CrO4、HNO3、KMnO4或(NH4)2S2O2,所述H2O2的浓度为1~3M,所述HF和氧化剂的混合液中HF的浓度为1~3M,所述强碱为KOH或NaOH,所述强碱的浓度为15~30wt%,所述浸泡的时间为10~20min。
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