[发明专利]一种助熔剂中碳空白值的确定方法在审
| 申请号： | 202211391232.5 | 申请日： | 2022-11-08 |
| 公开（公告）号： | CN115541519A | 公开（公告）日： | 2022-12-30 |
| 发明（设计）人： | 韦建环;李燕昌;高帅;孙涛;李刚;高晋峰 | 申请（专利权）人： | 中国航发北京航空材料研究院 |
| 主分类号： | G01N21/35 | 分类号： | G01N21/35;G01N21/3563 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 钱娜 |
| 地址： | 100095*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 熔剂 空白 确定 方法 | ||
1.一种助熔剂中碳空白值的确定方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1，称取特定质量的助熔剂，放入坩埚内，将坩埚放置在碳硫分析仪的待分析位置，运行碳硫分析仪，得到碳测得值；
S2，重复S1若干次，测量获取不同质量的助熔剂所对应的碳测得值；
S3，以助熔剂质量为横坐标X，碳测得值为纵坐标Y，拟合得到直线方程Y＝aX+b；
S4，取助熔剂质量X＝0，对应的Y值即为助熔剂的碳空白值。
2.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于，所述不同质量的助熔剂的质量间隔为0.50克。
3.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于，所述不同质量的助熔剂的质量间隔＜0.50克。
4.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1，称取多组特定质量的同种助熔剂，分别放入对应的坩埚内，将坩埚放置在碳硫分析仪的待分析位置，运行碳硫分析仪，得到碳测得值；
S2，重复S1若干次，测量获取多组不同质量的助熔剂所对应的碳测得值；
S3，以助熔剂质量为横坐标X，碳测得值为纵坐标Y，拟合得到不同组助熔剂所对应的直线方程Y＝aX+b；
S4，取助熔剂质量X＝0，对应的Y值即为不同组助熔剂的碳空白值；
S5，将不同组助熔剂的碳空白值相加后除以组数，得到助熔剂的平均碳空白值。
5.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1，称取多组特定质量的同种助熔剂，分别放入对应的坩埚内，不同组助熔剂所用的坩埚种类不同；将坩埚放置在碳硫分析仪的待分析位置，运行碳硫分析仪，得到碳测得值；
S2，重复S1若干次，测量获取多组不同质量的助熔剂所对应的碳测得值；
S3，以助熔剂质量为横坐标X，碳测得值为纵坐标Y，拟合得到不同组助熔剂所对应的直线方程Y＝aX+b；
S4，从不同组助熔剂所对应的直线方程中选取出斜率a最小的直线方程，在该直线方程中取助熔剂质量X＝0，对应的Y值即为助熔剂的碳空白值。
6.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于，所述碳硫分析仪运行时所使用的氧气纯度≥99.999％。
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