[发明专利]一种阵列侧向探测仪器的设置方法、装置及计算设备

权利要求书

1.一种阵列侧向探测仪器的设置方法，其特征在于，所述阵列侧向探测仪器包括主电极、对称于所述主电极设置的N对屏蔽回流电极以及M对监督测量电极；所述方法包括：

在所述N对屏蔽回流电极中确定屏蔽电极和回流电极，将所述回流电极接地，控制所述M对监督测量电极的电压，获得多种测量模式，并得到所述多种测量模式的测量响应函数；其中，所述多种测量模式的测量响应函数包括所述N对屏蔽回流电极中目标屏蔽回流电极的电极长度变量；

根据所述多种测量模式的测量响应函数、预设测量深度下的第一测量响应值以及预设测量分辨率下的第二测量响应值，构建目标优化函数；

求解所述目标优化函数，确定所述目标屏蔽回流电极的电极长度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述主电极的电极长度、所述N对屏蔽回流电极的电极长度以及所述M对监督测量电极的电极长度之和符合预设范围。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，第i+1对屏蔽回流电极与所述主电极之间的距离远于第i对屏蔽回流电极与所述主电极之间的距离，1≤i＜N；

第j+1对监督测量电极与所述主电极之间的距离远于第j对监督测量电极与所述主电极之间的距离，1≤j＜M。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述阵列侧向探测仪器包括6对屏蔽回流电极和7对监督测量电极；

所述在所述N对屏蔽回流电极中确定屏蔽电极和回流电极，将所述回流电极接地，控制所述M对监督测量电极的电压，获得多种测量模式进一步包括：

主电流从所述主电极流出，在所述6对屏蔽回流电极中将第1对屏蔽回流电极作为屏蔽电极发射屏蔽电流，将第2对屏蔽回流电极至第6对屏蔽回流电极作为回流电极并接地，保持第1对监督测量电极和第2对监督测量电极的电压相等，获得第一种测量模式；

主电流从所述主电极流出，在所述6对屏蔽回流电极中将第1对屏蔽回流电极和第2对屏蔽回流电极作为屏蔽电极发射屏蔽电流，将第3对屏蔽回流电极至第6对屏蔽回流电极作为回流电极并接地，保持第1对监督测量电极和第2对监督测量电极的电压相等，保持第3对监督测量电极和第4对监督测量电极的电压相等，获得第二种测量模式；

主电流从所述主电极流出，在所述6对屏蔽回流电极中将第1对屏蔽回流电极至第3对屏蔽回流电极作为屏蔽电极发射屏蔽电流，将第4对屏蔽回流电极至第6对屏蔽回流电极作为回流电极并接地，保持第1对监督测量电极和第2对监督测量电极的电压相等，保持第3对监督测量电极和第4对监督测量电极的电压相等，保持第5对监督测量电极和第6对监督测量电极的电压相等，获得第三种测量模式；

主电流从所述主电极流出，在所述6对屏蔽回流电极中将第1对屏蔽回流电极至第4对屏蔽回流电极作为屏蔽电极发射屏蔽电流，将第5对屏蔽回流电极和第6对屏蔽回流电极作为回流电极并接地，保持第1对监督测量电极和第2对监督测量电极的电压相等，保持第3对监督测量电极和第4对监督测量电极的电压相等，保持第5对监督测量电极和第6对监督测量电极的电压相等，保持第7对监督测量电极和第4对屏蔽回流电极的电压相等，获得第四种测量模式；

主电流从所述主电极流出，在所述6对屏蔽回流电极中将第1对屏蔽回流电极至第5对屏蔽回流电极作为屏蔽电极发射屏蔽电流，将第6对屏蔽回流电极作为回流电极并接地，保持第1对监督测量电极和第2对监督测量电极的电压相等，保持第3对监督测量电极和第4对监督测量电极的电压相等，保持第5对监督测量电极和第6对监督测量电极的电压相等，保持第7对监督测量电极和第4对屏蔽回流电极的电压相等，保持第4对屏蔽回流电极和第5对屏蔽回流电极的电压相等，获得第五种测量模式。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述目标屏蔽回流电极包括：第4对屏蔽回流电极、第5对屏蔽回流电极和第6对屏蔽回流电极。