[发明专利]一种水平井页岩油储层各向异性电阻率提取方法在审

专利信息
申请号: 202211407726.8 申请日: 2022-11-10
公开(公告)号: CN115898368A 公开(公告)日: 2023-04-04
发明(设计)人: 赵伟娜 申请(专利权)人: 青岛理工大学
主分类号: E21B47/00 分类号: E21B47/00
代理公司: 青岛润集专利代理事务所(普通合伙) 37327 代理人: 王爱丽
地址: 266520 山东*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 水平 页岩 油储层 各向异性 电阻率 提取 方法
【权利要求书】:

1.一种水平井页岩油储层各向异性电阻率提取方法,其特征在于,包括如下步骤:

s1.获取邻井地层层厚、地层水平电阻率、自然GR曲线信息,以及实测水平井阵列感应测井N个子阵列及合成的视电阻率曲线,其中,水平井阵列感应测井子阵列包括短源距子阵列和长源距子阵列;

s2.基于短源距子阵列曲线以及实测水平井GR曲线,划分水平井地层界面;

s3.建立解释模型,构建层状各向同性处理模型M1和均质各向异性处理模型M2

s4.反演第i个子阵列曲线,获得地层电阻率剖面Rtsi,并将该结果作为下一长源距子阵列的初值;

s5.依次反演各子阵列视电阻率曲线,分别获得相应的地层电阻率剖面Rtsi,i=1,…,N;

s6.对层状各向同性处理模型M1中第j个地层,结合步骤s5的反演结果,采用均质各向异性处理模型M2,反演当前层的各向异性电阻率Rhj和Rvj

s7.依次循环步骤s6,处理层状各向同性处理模型M1中每一层,进而得到各个地层的各向异性电阻率。

2.根据权利要求1所述的一种水平井页岩油储层各向异性电阻率提取方法,其特征在于,步骤s3包括如下步骤:

s3.1.针对页岩油储层电性特征和钻井环境,考虑井眼、地层褶皱、层厚和井斜影响,建立实际地层模型;

s3.2.忽略地层褶皱影响,对步骤s1中N个子阵列信号进行井眼校正后,建立相应的解释模型;

s3.3.分别考虑层厚和各向异性影响,将地层等效为有层厚影响无各向异性影响地层和有各向异性无层厚影响地层,进而依次构建层状各向同性处理模型M1和均质各向异性处理模型M2

s3.4.层状各向同性处理模型M1包括参数Rtsi、θ和Hj,其中,Rtsi为等效各向同性电阻率,Hj为地层厚度,θ为井斜,i代表第i个子阵列,j代表第j个地层,层状各向同性处理模型M1用于消除层厚影响;

s3.5.均质各向异性处理模型M2包括参数Rhj、θ和Rvj,其中,Rhj为水平电阻率,Rvj为垂向电阻率,θ为井斜,j代表第j个地层,均质各向异性处理模型M2用于获得各向异性信息。

3.根据权利要求1所述的一种水平井页岩油储层各向异性电阻率提取方法,其特征在于,步骤s4包括如下步骤:

s4.1.利用邻井参考电阻率、水平井实测子阵列曲线及合成曲线,提供反演初值;

s4.2.对第一个子阵列曲线,结合步骤s4.1提供的反演初值与步骤s3中构建的层状各向同性处理模型M1,反演获得地层电阻率剖面Rtsi,并将该结果作为下一个长源距子阵列的初值;

s4.3.对第i个子阵列曲线,将前一子阵列反演得到的地层电阻率剖面Rtsi-1作为反演初值,反演获得地层电阻率剖面Rtsi,并将该结果作为下一长源距子阵列的初值。

4.根据权利要求1所述的一种水平井页岩油储层各向异性电阻率提取方法,其特征在于,步骤s6包括如下步骤:

s6.1.步骤s3建立的均质各向异性处理模型M2,包括参数Rh和Rv,其中,Rh为水平电阻率,Rv为垂向电阻率,该模型忽略层厚影响;

s6.2.对层状各向同性处理模型M1中第j个地层,将步骤s5得到的当前层的N个电阻率剖面作为反演输入信息,结合步骤s3中构建的均质各向异性处理模型M2,对步骤s5的解释结果进行反演,得到当前层的各向异性电阻率Rhj和Rvj

s6.3.将层状各向同性处理模型M1中的所有层进行逐层反演,重复上述过程,从而获得各个地层的各向异性电阻率。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于青岛理工大学,未经青岛理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211407726.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top