[发明专利]一种X射线双晶衍射仪

权利要求书

1.一种X射线双晶衍射仪，包括：铜靶微焦斑X射线源系统，毛细管X光平行束透镜，Ge(11 1)平面晶体，SDD X射线探测器，测角仪，样品台，控制系统和计算机。其中，所述X射线源系统、毛细管X光平行束透镜和所述平面晶体安装在所述测角仪一侧；待测样品置于所述样品台上；样品台置于测角仪中心，探测器置于测角仪的另一端，测量时样品台跟随探测器进行θ-2θ转动；X射线源系统和X射线探测器与计算机连接；控制系统与测角仪，样品台相连，并连接至计算机接收控制信号。

2.如权利要求1所述的一种X射线双晶衍射仪，其特征在于，X射线源系统包括功率为50W的铜靶微焦斑X射线管。

3.如权利要求1所述的一种X射线双晶衍射仪，其特征在于，采用毛细管X光平行束透镜对X射线管发出的射线进行准直，可增强单位面积上X射线的强度，同时降低X射线的发散度，限制光斑大小。

4.如权利要求1所述的一种X射线双晶衍射仪，其特征在于，平面晶体为Ge(1 1 1)单晶，通过布拉格衍射从铜靶微焦斑X射线管产生的连续谱中选取铜的Kα线。

5.如权利要求1所述的一种X射线双晶衍射仪，其特征在于，X射线探测器选用SDD高计数的X射线探测器。