[发明专利]基于网关的数控系统测头自动测量系统及测量方法

权利要求书

1.一种基于网关的数控系统测头自动测量方法，其特征在于包括如下步骤：

步骤1、参数设置，设置测量运行标识参数为1；

步骤2、数控系统测头开始测量第一个待测点，测量完成后设置测量点完成数据有效标识参数为1；

步骤3、延时T1，设置测量点完成数据有效标识参数为0；

步骤4、依次循环测量完所有的待测点，直至整个工件测量完成，设置测量运行标识参数为0；

步骤5、网关每间隔时间T2采集一次数据并上传至云平台；

步骤6、云平台提取有效数据中测量运行标识参数与测量点完成数据有效标识参数同时为1的数据，并进行数据分析后进行展示测量结果。

2.根据权利要求1所述的基于网关的数控系统测头自动测量方法，其特征在于：所述延时T1的值为0.5～2s。

3.根据权利要求1所述的基于网关的数控系统测头自动测量方法，其特征在于：所述间隔时间T2的值为100～500ms。

4.根据权利要求1所述的基于网关的数控系统测头自动测量方法，其特征在于：所述网关采集的数据中包括坐标与误差。

5.根据权利要求1所述的基于网关的数控系统测头自动测量方法，其特征在于：步骤6中测量结果通过web平台进行实时展示。

6.一种基于网关的数控系统测头自动测量系统，其特征在于：包括数控系统、网关、云平台与展示平台，其中：

所述数控系统用于测量工件的数据；

在数据测量过程中，设置测量运行标识参数为1；数控系统测头开始测量第一个待测点，测量完成后设置测量点完成数据有效标识参数为1；延时T1，设置测量点完成数据有效标识参数为0；依次循环测量完所有的待测点，直至整个工件测量完成，设置测量运行标识参数为0；

所述网关用于每间隔时间T2采集一次数据并上传至云平台；

所述云平台用于提取有效数据中测量运行标识参数与测量点完成数据有效标识参数同时为1的数据，并进行数据分析；

所述展示平台用于展示测量结果。

7.根据权利要求6所述的基于网关的数控系统测头自动测量系统，其特征在于：所述延时T1的值为0.5～2s。

8.根据权利要求6所述的基于网关的数控系统测头自动测量系统，其特征在于：所述间隔时间T2的值为100～500ms。

9.根据权利要求6所述的基于网关的数控系统测头自动测量系统，其特征在于：所述网关采集的数据中包括坐标与误差。

10.根据权利要求6所述的基于网关的数控系统测头自动测量系统，其特征在于：所述测量结果通过web平台进行实时展示。